일반기술
표면 결함 정보 추출을 위한 레이저 - 초음파 검사 장치 및 방법
해당 기술은 표면 결함 정보 추출을 위한 레이저-초음파 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 검사 장치에서는 적어도 하나의 조사용 레이저 빔을 이용하여 물체의 표면에 초음파를 발생시켜 전파시키고, 전파되는 초음파에 측정용 레이저 빔을 조사하여 비접촉 방식으로 추출한 초음파 신호 정보들로부터 결함의 위치 정보 및 깊이 정보를 획득하거나, 상기 적어도 하나의 조사용 레이저 빔의 영상을 촬영하여 촬영된 조사용 레이저 빔의 중심선을 기반으로 추출한 결함 형상 정보로부터 결함의 외부 형상 및 결함의 바닥부 형상을 획득할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국원자력연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-03-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020060006674