일반기술
표면 결함의 깊이를 측정하기 위한 레이저 - 초음파 검사 장치 및 방법
해당 기술은 표면 결함의 깊이를 측정하기 위한 레이저-초음파 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상기 검사 장치에서는 물체 표면에 적어도 하나의 조사용 레이저 빔을 이용하여 초음파를 유도하고, 상기 초음파가 유도된 상기 물체 표면에 측정용 레이저 빔을 조사하여 추출된 초음파 신호 정보들로부터 고주파 영역의 성분값의 이동량과 상기 초음파 신호 정보들의 중심 주파수값의 이동량을 이용하여 결함의 깊이 정보를 추출할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 한국원자력연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-03-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020060027573