일반기술
비접촉형 점도계
해당 기술은 액체 시료의 점도를 측정하는 방법에 관한 기술이며 측정 용기 내의 액체 표면에 저주파 음파를 보내 파장을 일으키면서 동시에 표면에 레이저 광을 조사하여 발생한 파장으로 인한 반사 레이저광의 변위를 측정하는 기술이다. 이러한 변위, 말하자면 액면의 변동은 일반적으로 액체의 점도가 낮을수록 크고, 점도가 높을수록 낮아지는데 9~15Hz의 저주파를 보내면 다른 높은 주파수에 비해 액면의 변동이 커 결과적으로 검출감도가 높아지게 된다. 또한 발신기, 스피커로 만들어진 저주파 음파는 파이프 형태의 음파 도파관을 경유하여 액체의 표면에 보내지는데 기존의 점도 측정 장치의 경우 시료 액체 안에 설치된 타입이 많아 부식되거나 유지 보수가 어려웠지만 해당 기술의 경우는 측정 부위가 액체에 접촉이 되지 않기 때문에 대상 액체의 부식성이 강하더라도 문제가 안되며 장치의 유지 보수 또한 용이하다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국기술벤처재단
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-03-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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