일반기술
역학 물성의 계측 방법 및 장치
해당 기술은 비접촉·비파괴의 방법을 통하여 극소량의 액체나 다른 소프트 머테리얼의 표면장력·계면장력 및 점탄성을 측정하는 계측 시스템 및 그 장치에 관한 것이다.전계를 대상 물질 및 그 주위에 인가하여 이것에 수반해 생기는 막스 웰 응력에 의한 대상 물질의 변형을 측정하는 것으로써, 표면장력·계면장력 및 점성을 신속히 높은 확률로 계측할 수 있다. 구체적 방법은 다음과 같다. 측정 대상 물질을 대항하는 두 전극 사이에 삽입하여 전압을 인가하는 것으로써 전극 간에 전계를 발생시킨다. 대상 물질의 내부와 외부의 유전율차이에 의해 발생하는 막스 웰 응력에 수반해 나타나는 물질의 변형에 대해서 절대량으로부터 대상물의 표면장력 및 탄성을 또 시간 변동하는 전계에 추종하는 변형의 운동 상태로부터 대상물의 점성을 계측한다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국기술벤처재단
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-03-31
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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