일반기술
액정디스플레이 패널 검사용 프로브핀의 정렬가이드 및 그 제조방법
해당 기술은 액정디스플레이 패널 검사용 프로브핀의 정렬 가이드 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 액정디스플레이(Liquid Crystal Display, LCD) 패널의 결함을 검사하도록 구성되는 프로브블록에 포함되는 프로브핀 간의 간격 및 두께를 극미세로 정렬할 수 있도록 함으로써, 액정디스플레이 패널의 화소와 정밀하게 대응하여 픽셀 결함을 정확하게 검사할 수 있도록 하는 액정디스플레이 패널 검사용 프로브핀의 정렬 가이드 및 그 제조방법에 관한 것이다. 해당 기술의 액정디스플레이 패널 검사용 프로브핀 정렬 가이드는, 일면에 전도막이 도금되고 부도체 재질로 형성된 패드; 상기 전도막 상에 위치하고, 상기 프로브핀이 삽입되는 다수개의 에칭공이 몸체 상하로 관통되어 횡렬 및 종렬로 식각에 의해 형성되며, 표면이 절연처리된 하부슬릿; 상기 하부슬릿의 상면 일측에 상기 에칭공과 간섭없이 위치하는 부도체 재질의 지지체; 및 상기 지지체 상에 위치하고, 상기 하부슬릿의 에칭공과 동일선상으로 횡정렬되도록 상기 프로브핀이 삽입되는 다수개의 에칭홈이 식각에 의해 형성되며, 표면이 절연처리된 상부슬릿을 포함함에 기술적 특징이 있다. 따라서, 해당 기술의 액정디스플레이 패널 검사용 프로브핀의 정렬 가이드 및 그 제조방법은 프로브블록에 포함되는 프로브핀 간의 간격 및 두께를 극미세로 정렬할 수 있도록 함으로써 액정디스플레이 패널의 화소와 정밀하게 대응하여 픽셀 결함을 정확하게 검사할 수 있도록 할 수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 전자부품연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-04-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020070077149