일반기술

SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트를 지원하는 IEEE 1500 래퍼 셀 및 이를 이용한 테스트 방법

해당 기술은 SoC 코아로직의 천이 지연 고장을 테스트하기 위하여 코아로직의 입력 또는 출력 포트에 연결되는 래퍼 셀에 있어서,제1 멀티플렉서와, 상기 제1 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아, 후속하여 연결된 다른 래퍼 셀의 제1 멀티플렉서로 출력하는 제1 플립플롭과, 상기 제1 플립플롭의 출력과 CFI(Core Function Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 제2 멀티플렉서와, 상기 제2 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아 출력하는 제2 플립플롭 및 상기 제2 플립플롭의 출력과 상기 CFI 데이터 중 어느 하나를 선택하여 CFO(Core Function Output) 데이터로 출력하는 제3 멀티플렉서를 포함하되, 상기 제1 멀티플렉서는 상기 제2 플립플롭의 출력과 CTI(Core Test Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트용 레퍼 셀을 제공한다.