일반기술
투명한 튜브의 외경과 내경을 측정하기 위한 장치 및 방법
해당 기술은 투명한 튜브의 내경과 외경을 비접촉식으로 측정할 수 있는 장치와 방법이 제공된다. 해당 기술에 따르면, 투명한 튜브의 길이방향에 수직한 단면에 대하여 소정 각도로 기울여진 단면 직선상의 광빔을 투명한 튜브에 조사하여, 튜브에 의해 가려지고 굴절되어 형성된 광빔의 패턴을 획득하고, 튜브에 의해 가려진 광빔 패턴으로부터 외경정보를 추출하고, 튜브에 의해 굴절되어 형성된 광빔 패턴으로부터 내경정보를 추출하여 연산함으로써 외경과 내경을 함께 얻는다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전자요소 기술
- 보유기관
- (재)광주테크노파크
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2009-07-09
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
발명명칭 정보 없음
출원번호 1020050003422