일반기술

Display 장치 자동 시각검사 기술

본 기술은 Display 장치 자동 시각검사 기술에 관한 것이다.본 기술은 영상처리 기술을 이용한 디스플레이 장치 표면 자동검사 기술로 디스플레이 장치 표면의 휘도 자동측정 및 검사 기술과, 디스플레이 장치 표면의 얼룩 및 dot 자동 검출 기술과, 영상 전처리 모듈, 영상 분할 및 라벨링 모듈, 영상 특징추출 모듈등 자동검사용 영상처리 모듈과, 영상처리 고속화 기술로 구성된다.본 기술에의한 디스플레이 장치 표면의 휘도 자동측정 및 검사 기술은 지정된 지점의 휘도 및 색상, 휘도의 균일성, 휘도의 Profile등을 검사하며, 디스플레이 장치 표면의 얼룩 및 dot 자동검출 기술은 디스플레이 장치 표면의 흑점, 백점, 긁힘 검출과, 배경 격자 모양의 음영 제거, 1픽셀 단위의 결함 해석 기능등으로 이루어진다.본 기술은 박막 트랜지스터, 액정표시장치(TFT LCD등) 디스플레이 제품의 품질 향상 및 원가절감을 통한 국제 경쟁력 향상, 향후 20억불 이상으로 추정되는 비접촉 검사장비의 국제 시장의 선점 및 수많은 제조업에의 응용기술의 파급효과를 기대할 수 있다.

기술정보

기술분류
전기·전자 > 표시소자
보유기관
한국전자통신연구원
기술유형
일반기술
등록일
2001-05-17
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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