일반기술
Back Light Unit 자동시각검사 S/W
본 기술은 Back Light Unit 자동시각검사 기술에 관한 것이다.본 기술은 지정된 지점의 밝기, 밝기의 균일성, 밝기의 프로파일등의 BLU(Back Light Unit) 휘도 검사 알고리즘과, 흑점, 백점, 이물질, 긁힘등 BLU 표면 자동 검사 알고리즘을 제공한다.본 기술은 대칭 변환기법을 이용하여 배경의 격자 무늬 음영 영향 억제, 다양한 형태 및 명도의 이물질, 백점, 흑점, 긁힘 검출 등 표면 검사 알고리즘을 제공한다.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 소프트웨어
- 보유기관
- 한국전자통신연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-05-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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