일반기술

광섬유의 색분산 측정시스템 및 측정방법

본 기술은 실제 시스템에서의 응용을 위한 원격조정 및 외부환경 조건에 민감하지 않은 광섬유의 색분산 특성 측정 방법을 제시함으로써 실제 필드에서의 전송선으로서 장거리 광섬유의 색분산 측정 및 광섬유 소자와 같은 단거리 광섬유에 대한 정확한 색분산 측정을 위한 시스템 구현이 가능토록 하는 기술에 관한 것이다.기존의 색분산 측정시스템에서 모드락킹과 Q스위칭된 Nd:YAG 레이저로 펌핑시키는 실리카 광섬유 라만 레이저를 이용하면, 1.1∼1.7㎛의 비교적 넓은 파장대에 대한 측정은 가능하나, 모노크로미터를 필요로 함으로서 시스템의 소형화가 어려운 단점이 있다. 또한, 6개의 InGaAsP 반도체레이저 어레이를 이용하게 되면 소형화는 가능하나, 파장분할 다중화기를 필요로 함으로서 시스템 제작에 비용이 많이 든다. 따라서, 본 기술은 실제 필드에서의 전송선으로서 장거리 광섬유의 색분산 측정을 위한 시스템 구현이 가능토록 하는 광섬유의 색분산 측정시스템 및 측정방법을 제공하고자 한다.본 기술에 의한 광섬유의 색분산 측정 시스템은 이득 스위칭에 의한 광펄스를 생성하는 다모드 레이저 다이오드와, 생성된 광펄스를 증폭시키는 광섬유증폭기와, 증폭된 광출력 펄스를 통과시켜 다모드 레이저 다이오드의 각 모드를 분리함으로써 기준 신호를 생성하는 고분산광섬유와, 고분산광섬유에 의해 분리된 각 파장에 대한 광펄스를 기준신호로 하고 이를 통과시켜 색분산 특성에 의한 광펄스 간격을 변화시키는 테스트 광섬유와, 테스트 광섬유의 색분산 특성에 의해 변화된 광펄스를 고속 검출하는 고속 광검출기와, 검출된 광펄스의 색분산을 측정하는 RF 스펙트럼 분석기를 포함한다.본 기술에 의한 광섬유의 색분산 측정 방법은 다모드 레이저 다이오드의 이득 스위칭에 의한 펄스열을 생성하고, 고분산 광섬유에 의한 모드 분리를 이용하여 파장이 각기 다른 다파장 펄스열을 생성시킴으로써 파장이 다른 다파장 펄스열이 한 경로를 지나가면서 광섬유의 색분산에 의한 시간 지연을 주파수 영역에서 측정한다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 반도체 레이저를 광원으로 이용하므로 0.7∼1.6㎛의 넓은 파장 영역에 대한 측정이 가능하다. 다모드 FP-LD를 이득스위칭하여 생성된 펄스를 광원으로 이용하므로 시스템의 저가화 및 소형화가 가능하다. 시간지연 방법을 이용하되 이에 대한 측정은 주파수 영역에서 RF 스펙트럼분석기로 측정함으로서 장거리 뿐 아니라 1m 이내의 단거리 광섬유에 대한 측정도 가능하다.