일반기술

용질의 특정분자량 부분제거율을 이용한 막공 크기분포 측정방법 및 장치

본 기술은 용질의 특정분자량 부분제거율을 이용한 막공 크기분포 측정방법 및 장치에 관한 것으로, 기존의 방법들은 모두 고가의 측정기기를 사용하여야 하고 막이 실제 사용되는 현상에서의 조언을 고려한 막공 크기의 측정은 전혀 불가능하였다. 본 기술에서는 분자 크기분포를 이미 알고 있는 전하성 또는 비전하성 용질 함유 수용액(유입수)을 막공 크기를 측정하고자 하는 막에 통과시켜 여과한 후, 유입수와 여과수 간의 용질의 분자량 크기분포를 비교하여 막여과에 의한 특정분자량 부분제거율을 산정하고, 이를 막의 기공 크기분포로 환산하는 것을 포함하는, 막공 크기분포 측정방법을 제공한다. 또한 막 호울더(folder)가 장착된 막 여과장치, 이 막 여과장치에 연결되어 유입수 및 여과수의 용질의 분자량 크기분포를 측정하는 고성능 액체 크로마토그래피(High Performance Liquid Chromatography, HPLC) 및 크기 분리(배제) 크로마토그래피(Size Exclusion Chromatography, SEC), 및 크로마토그래피로부터 도출된 결과를 분석하여 막공 크기분포로 환산해 보여주는 소프트웨어 등으로 구성된다 이에 본 기술에선 전하성 또는 비전하성 용질을 막여과시켜 막을 통과한 분자와 통과하지 못한 분자의 크기분포를 비교하여 산정한 특정분자량 부분제거율을 막의 기공 크기분포로 환산함으로써, 막의 종류 및 가공 크기에 관계없이 막공 크기분포를 경제적이고 연속적으로 측정할 수 있게 되었다. 본 기술에 의하면, 막의 종류 및 기공 크기에 관계없이 측정하고자 하는 막의 기공 크기분포를 경제적이고 연속적으로 측정할 수 있으며, 해당 막이 실제 사용되는 응용분야의 용액 및 운영조건을 그대로 막공 측정시에 적용할 수 있기 때문에 실제 사용시의 막공 크기를 구할 수 있을 뿐만 아니라 제거 또는 분리하고자 하는 용질이 전하를 띠는 경우에도 그 전하를 고려한 겉보기 막공 크기분포를 측정할 수 있다

기술정보

기술분류
화학공정 > 기타 화학공정
보유기관
특허법인충정
기술유형
일반기술
등록일
2001-07-17
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

관련 특허

등록된 관련 특허가 없습니다.