일반기술

LFM을 이용하여 화학처리된 시료 표면을 분석하는 방법

LFM 탐침의 표면에 금 또는 은 박막을 형성하고, 하이드록시기, 카르복실기, 아민기, 아미드기, 할로겐 원자, 트리플루오로메틸카르보닐아민기, 알킬카르보닐아민기, 알콕시기 또는 알킬기의 화학적 작용기를 도입하고, 화학적 작용기가 도입된 LFM 탐침으로 시료 표면을 주사하여 시료 표면의 화학적 작용기와 LFM 탐침의 화학적 작용기간의 마찰력 또는 흡착력 차이에 의하여 시료 표면의 화학적 특성을 분석한다.다양한 화학적 작용기를 갖는 LFM 탐침으로 2가지 이상의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면을 주사함으로써 시료 표면의 화학적 특성을 나노미터 수준에서 규명하는 것이 가능하다.시료 표면에 형성된 미세구조를 분석하는 일반적인 방법은 주사탐침현미경의 일종인 AFM(Atomic Force Microscope)을 이용하는 것이다. 그러나, 이 방법으로는 시료 표면의 각 화학작용기가 갖는 화학적 특성을 알아내기가 곤란하다. LFM(Lateral Force Microscope)를 이용하면 재료표면의 윤활성, 마찰, 마모성질을 나노미터에서 마이크로미터에 이르기까지 측정해낼 수 있다.LFM을 이용하여 화학처리된 시료 표면을 분석하였으며 다양한 화학적 작용기를 갖는 LFM 탐침으로 2가지 이상의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면을 주사함으로써 시료 표면의 화학적 특성을 나노미터 수준에서 규명하는 것이 가능하다. 이러한 분석결과는 촉매반응 등과 같은 표면화학반응에 유용하게 적용될 수 있을 뿐만 아니라, 나노미터 수준의 화학적 감응장치, 미세회로 등의 기능성 표면재료를 개발하는 연구와 생화학적 상황에 적용시킨 분자인지 모델의 연구에 다양하게 접목시킬 수 있다