일반기술

LFM를 이용하여 화학처리된 시료 표면을 분석하는 방법

LFM 탐침의 표면에 화학적 작용기를 도입하고, 화학적 작용기가 도입된 LFM 탐침으로 시료 표면을 주사하여 시료 표면의 화학적 작용기와 LFM 탐침의 화학적 작용기간의 마찰력 또는 흡착력 차이에 의하여 시료 표면의 화학적 특성을 알아냄으로서 시료 표면의 화학적 특성을 나노미터 수준에서 규명하는 것이 가능하다. 이러한 분석결과는 촉매반응 등과 같은 표면화학반응에 유용하게 적용될 수 있을 뿐만 아니라, 나노미터 수준의 화학적 감응장치, 미세회로 등의 기능성 표면재료를 개발하는 연구와 생화학적 상황에 적용시킨 분자인지 모델의 연구에 다양하게 접목시킬 수 있다.시료 표면상에 형성된 미세 구조를 분석하는 방법으로는 주사탐침현미경(scanning probe microscope:SPM)중의 일종인 AFM(Atomic Force Microscope)을 이용하는 방법을 이용한다. AFM를 이용하면 시료 표면의 높낮이 차이에 따른 이미지 변화에 의해 시료 표면의 구조에 대한 정보를 알 수 있다.그러나 이 방법은 시료 표면의 각 화학작용기가 갖고 있는 화학적 특성은 알아내기가 매우 어렵다는 문제가 있었다.LFM 탐침에도 화학적 작용기를 도입함으로써 탐침의 화학적 작용기와 시료 표면의 화학적 작용기가 도입된 시료 표면을 주사함으로서 상호작용(마찰력) 차이에 의하여 시료 표면의 화학적 특성을 나노미터 수준에서 분석할 수 있다