일반기술
전도 계수, 비열 및 엔탈피를 측정하는 장치.
이 혁신적인 측정 시스템은 세가지 열적 특성에 기초한다: -30ºC 및 +30ºC의 상온 사이에서의 광범위한 온도 범위에서의 전도 계수, 비열 및 엔탈피. 시스템은 경제적이고, 신속하게 작동되며 사용이 간편하여 연구, 교육 및 품질 제어를 위하여 사용될 수 있다.ADC 아날로그 구분 열량 측정이라고 명명된 이 새로운 측정 기술은 Peltier 효과에 의해 전기적으로 순응되고 조절된 두 개의 열적 초점들로 구성된 실제 모델의 비교에 기초하고 있다. 이 장치는 한 세트의 절연 및 보호 요소들을 포함하고 있는데, 이는 열 흐름이 중심부에서 측정되어야 하는 표본에 직교하는 방향으로 되도록 허용한다. 비교는 컴퓨터에 의해 해석된 전기적 유추에 의해 개발된 이론 시뮬레이션 모델을 통해 이루어진다. 각각의 측정에 대하여, 실제 모델 그리고 환경 조건의 온도 및 열 흐름은 컴퓨터로 입력되고 시뮬레이션 된 표본의 전도 계수와 비열의 값은 이들 간에 적절한 상호 관계가 획득될 때까지 조정된다. 프로그램은 사전에 표본의 전도 계수, 비열을 계산하고 순차 접근을 통해 시스템의 열적 관성을 수정한다. 프로그램은 이후 전도 계수, 비열 그리고 비열의 통합을 통해 얻어지는 엔탈피의 차이 값을 저장한다. 측정 시스템은 측정을 반복하고 다시 데이터를 컴퓨터로 전송하는데, 이는 공정이 완료될 때까지 계속된다. 실험이 실시되는 동안, 시간 또는 온도의 함수로써 표본에 들어가고 나가는 열 흐름, 전도 계수, 비열 그리고 온도의 함수로써 엔탈피의 변화는 즉시 여러 스크린들을 통해 시각화 할 수 있다.이는 단지 몇 시간의 훈련 후에 사용할 수 있는 단순한 장치이다.이 측정 시스템은 식품, 축열기 그리고 단열 소재의 열 물리적 특성을 정의하기 위하여 개발되었지만, 다른 산업 영역에 사용될 수 있다. 일차 프로토타입들 중 하나는 세라믹 제품 연구에 사용되고 있으며 다른 하나는 단열 시설에서 제품들의 품질 제어용으로 사용된다.혁신적인 사항:시장에는, 전도 계수, 비열 그리고 엔탈피를 동시에 측정할 수 있는 또 다른 시스템은 없다.직교성을 신속하게 얻기 위한 보호.소프트웨어 개발.주요 장점:이 장치는, 작지만 대표적인 표본(9*9*2 cm)의 세가지 중요한 열물리학적 특성을 이전의 알려진 기술에 비해 경제적인 기술로 신속한 측정을 가능하게 한다.사용이 간편하다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 제어·자동화
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-07-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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