일반기술
물리학 > 기타 광학
레이져를 이용한 광간섭 측정기술은 고체나 열, 유체뿐아니라 초고속 항공공학 분야에서도 널리 이용되고 있다. 광학기술의 주요 장점은 점 측정이 아니고 대상물 전체에 대한 측정 데이터를 추출할수 있는 면측정이고, 비접촉 측정이며, 또 고해상도의 필름이나 CCD 카메라를 이용하여 레이져 광원 파장의 1/100정도까지 구현할수 있는 초정밀 측정이 가능한 것이다. 본 광학 실험실에서 광간섭 기술을 이용하여 측정할수 있는 변수들은 변위, 온도, 압력, 밀도, 진동패턴, 입자속도등으로 이를위하여 힐륨-니온, 아르곤-이온, 다이오드 및 CO2 레이져를 비롯하여 각종 미터기 및 광학 부품들을 구비하고 있다. 각 변수들을 올바르게 측정하기 위해서는 그에 적합한 광계측 시스템의 구축과 측정 결과로 얻어지는 간섭무늬 이미지에 대한 해석이 필수적인데, 본 광학 실험실은 홀로그래픽 간섭계 주축으로 위상전위, 트윈만-그린, 피죠, 마크-젠다 간섭계등의 구축에 대한 여러 가지 노하우를 가지고 있으며 간섭이미지 해석을 위한 여러가지 실시간용 프로그램을 개발해 놓고 있다. 검사자동화는 이러한 측정기술을 바탕으로 본 실험실이 속해 있는 자동화 공학과의 중심기술인 센서, PLC, 로봇응용 기술등과 함께 구현할 수 있다.
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- 한국생산기술연구원
- 등록일
- 2000-08-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
광검출기는 입력된 광신호를 전기신호로 바꾸는 소자로서, 입력된 광신호에 의해 물질내에서 여기된 전자와 정공(hole)을, 이들이 재결합되기 전에 분리하여 전극으로 추출해내는 원리에 의해 작동한다. 이를 위하여 금속과 반도체사이의 Schottky 접합이나, 반도체간의 pn접합 특성을 이용한다. 입사광의 파장범위에 따라 응용분야가 달라지며, 이에따라 광흡수와 여기에 적합한 다른 에너지갭을 갖는 다양한 반도체가 사용된다. 일반적으로 광통신용으로는 1.31 ~1.55 ㎛의 파장의 흡수를 위하여 InP에 격자정합된 InGaAs를 사용하며, 가시광의 검출을 위해서는 저가의 Si이 사용되기도한다. 응용범위와 소자의 요구규격에 따라서 평면형과 메사형 등의 다양한 구조를 갖는 광검출기가 설계, 제작될 수 있는데, 광검출기의 설계, 제작시에는 일반적인 동작전압인 -5V에서 누설전류(leakage current)와 정전용량(capacitance)을 최소화 하면서 양자효율(광신호의 전기신호로의 변환효율)을 최대화 할 수 있도록 하여야한다
- 보유기관
- 한국생산기술연구원
- 등록일
- 2000-08-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
·정보표시장치의 평가기술 개발 ·다중광선을 이용한 광디스크 드라이브의 픽업설계에 관한 연구 ·광픽업용 홀로그래픽 광학소자 개발 ·고출력 단펄스 엑시머 레이저 및 응용기술 개발 ·자외선 특성평가기술 개발 ·광계측 기술을 위한 홀로그래픽 광학소자 개발연구 ·양방향 층밀리기 간섭기술을 위한 광학변수 측정기술 개발 ·MTF 측정에 의한 CCD 평가기술 개발 ·CCD를 이용한 실시간 렌즈 평가기술개발
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- 한국생산기술연구원
- 등록일
- 2000-08-29
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물리학 > 기타 광학
활성슬러지 공정에서 폭기조와 침전조의 미생물의 농도나 기타 수중 부유물질 농도를 측정할 수 있는 광학적 원리를 이용한 계측기기 회로 설계＊노이즈 필터를 장착하여 외부에서 발생하는 노이즈 제거＊발광부와 수광부는 LED(530nm)와 수광 감도가 좋은 CdS 셀을 사용＊과도한 전압으로 인한 LED 손상 예방을 위해 LED와 CdS 셀 주변에 저항을 장착＊수광부에서 검출된 전압을 출력하기 위해서 DC volt meter를 상용
- 보유기관
- 부산대학교
- 등록일
- 2000-11-22
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물리학 > 기타 광학
＊활성슬러지 공정에서 저농도 폭기조와 고농도 침전조의 미생물의 농도나 기타 수중 부유물질농도를 측정할 수 있는 광학적 원리를 이용한 계측기기 제조＊시료를 통과하는 이중흐름관이중흐름관이 장착된 부유물질의 농도 계측기기는 기존의 계측기기에 비해 저농도에서 고농도 영역까지 정밀한 계측이 가능
- 보유기관
- 부산대학교
- 등록일
- 2000-11-22
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물리학 > 기타 광학
대상물질을 외부로 순환시키는 외부순환방식 도입으로 계측기기의 지상 배치 가능＊방수 처리에 따른 기술적 문제 해결＊계측기의 유지보수 용이＊제작경비 절감
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- 부산대학교
- 등록일
- 2000-11-22
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물리학 > 기타 광학
본 발명은 레이저를 이용한 유체 회전체, 이동체 등의 속도 측정 방법으로서, 특히 LDV(Laser Doppler Velocimeter) 방식과 시차(Time of Flight) 방식을 결합 이용한 유체 속도 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.종래의 레이저를 이용한 속도 측정 방법에는, LDV를 이용한 측정 방법, 시차 방식에 의한 측정 방법, 홀로그래피 방법 및스페클을 이용한 측정 방법이 있다.이 중에서 홀로그래피 방법은 순간적인 두번의 노출 촬영에 의해 물체의 움직임을 측정하는 방법으로서, 비교적 측정 물체의 크기가 크고 느린 속도로 움직이는 경우에 적합하다. 스페클을 이용한 속도 측정 방법은 레이저 광이 난반사 표면에서 반사되었을때 생기는 스페클 현상을 이용하는 방법으로서, 상당히 거친 표면을 가진 고체의 속도를 측정하는데 적합하다. 홀로그래피 방법과 스페클을 이용한 속도 측정 방법은 주로 크기가 큰 물체의 진동이나 변형 등을 측정하는데 적합하며 본 발명에 따른 LDV 방식과 시차 방식을 결합 이용한 속도 측정 방법과는 측정 대상 및 응용 분야가 다르다.이에 비하여 LDV 방식과 시차 방식은 먼지나 연소 가스의 입자와 같이 크기가 매우 작은 입자의 속도를 측정하는데 사용된다. LDV 방식이나 시차 방식을 이용한 유체 속도 측정의 경우는 유체 내에 주입된 입자를 이용하고, 회전체나 이동체의속도 측정의 경우는 회전체나 이동체의 몸체에 부착된 탐침자를 사용하여 감지 영역을 스캐닝하며, 이때 생기는 산란광을광 검출기로 검출하여 결차로 나타나는 파의 주기나 파형의 폭을 측정함에 의해 속도를 측정한다.LDV 방식은 도플러 효과를 시용한 속도 측정 방법으로서, 즉 움직이고 있는 물체에 의해 산란된 파가 그 물체의 움직임에대한 정보를 가지고 있다는 것을 응용한 것이다.
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- 한국과학기술연구원
- 등록일
- 2000-11-22
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물리학 > 기타 광학
차원형상의 자동 측정방법17402슬릿광을 이용하여 3차원형상으로 측정하는 방법에 있어서, 여러개의 직선이 일정간격으로 형성된 격자르 투영하여 만들어진 다중 슬릿광을 측정물체에 투사하고, 측정물체상에 형성된 광의 궤적을 포착하여 영상알고리즘에 의해 측정물체의 3차원형상의 산출함을 특징으로 하는 다중 슬릿광을 이용한 3차원형상의 자동측정방법.1. 슬릿광을 이용하여 3차원형상을 측정하는 방법에 있어서, 여러개의 직선이 일정간격으로 형성된 격자의 슬릿을 투과한 빛을 결상렌즈를 이용하여 결상시킨 다중 슬릿광을 측정물체에 투사하고, 측정물체상에 형성된 광의 궤적을포착하여 영상알고리즘에 의해 측정물체의 3차원형상을 산출함을 특징으로 하는 다중 슬릿광을 이용한 3차원형상의 자동측정방법.2. 제1항에 있어서, 정밀 이송장치를 이용하여 슬릿광 투사기의 영상면에서 일정간격으로 격자를 이동하면서측정간격(P)를 갖는 측정데이타를 P/n만큼 조밀하게 하여 보간효과를 얻는 것을 특징으로 하는 다중 슬릿광을 이용한 3차원형상의 자동측정방법
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- 한국과학기술연구원
- 등록일
- 2000-12-15
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 기술은 짧은 길이의 광섬유에 대한 색분산을 보다 정밀하고 용이하게 측정하는데 적합한 광섬유의 색분산 측정 장치에 관한 것이다.기존의 간섭계를 이용한 코릴레이션 방법은 실험실에서 간단하게 사용할 수 있고, 수 미터 정도의 짧은 광섬유의 색분산을 측정할 수 있다는 장점을 갖고 있기는 하지만, 광 스펙트럼 분석기와 같은 고가의 장비를 필요로 하며, 그렇지 않은 경우에는 측정의 정확도가 떨어진다는 문제가 있다. 즉, 기존의 광섬유 색분산 측정기술은 고가의 가변파장 레이저와 분광기 등을 필요로 하거나 수백 미터 이하의 짧은 길이의 광섬유의 분산을 정밀하게 측정하는데 많은 어려움이 있었다.따라서, 본 기술은 광미세거리 측정기술과 푸리에 분광법을 이용하여 짧은 길이의 광섬유에 대한 색분산을 정확히 측정하고자 한다.본 기술에 의한 광섬유의 색분산 측정 장치는 광섬유의 색분산을 측정하기 위해 제 1 광원을 이용하여 광신호를 발생하고 이를 공기 중으로 전송하며, 공기 중으로 전송된 광신호를 다시 광섬유 내로 투과시켜 광신호의 세기에 따른 간섭무늬 데이터를 측정하는 제 1 간섭계, 제 2 광원을 이용하여 공기의 흐름에 따라 변화되는 간섭무늬의 스캐닝 포지션을 검출하여 광섬유의 미세거리에 따른 간섭무늬 데이터를 측정하는 제 2 간섭계, 제 1 간섭계로부터의 데이터를 푸리에 변환하여 파장에 따른 광섬유의 굴절률의 차를 산출하고, 산출된 굴절률을 파장에 대하여 미분하여 광섬유의 색분산을 산출하는 컴퓨터를 포함하여 구성되어 있다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 기존의 광섬유 분산 측정장치에 비하여 간단한 광섬유의 색분산 측정 방법을 제공할 수 있으며, 이를 위한 시스템을 구현함에 있어서 고가의 가변파장 레지저나 분광기 등을 사용하지 않게 됨으로서 그 비용을 현저하게 절감할 수 있는 효과가 있으며, 1m 정도의 짧은 길이의 광섬유의 분산값을 매우 정밀하게 측정할 수 있게 됨으로서 측정하고자 하는 파장에서 흡수나 손실계수가 큰 경우에도 정확한 색분산을 측정할 수 있다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-05-18
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물리학 > 기타 광학
본 기술은 광양자테 레이저가 시각도에 따라 다른 파장의 빛을 발진시키는 성질을 이용한 각도 및 고도 측정 장치에 관한 것이다.기존의 표면 방출형 레이저 다이오드는 대개 수 mA이상에서 동작하여 일정한 전류를 인가할 때 일정한 파장만이 발진되는 반면, 전류를 변화시킴에 따라 발생하는 온도 변화에 비례하여 파장이 변화하는 특성을 갖는다. 또한, 표면 방출형 레이저 다이오드는 표면에 수직인 각도로만 레이저가 발진되는 특성을 가지므로 각도 변화를 감지하기 곤란한 문제가 있었다.반면, 본 기술에서는 시각도에 따라 각각 다른 파장의 빛을 발진하는 광양자테 레이저를 이용한 각도 및 고도 측정장치를 구현할 수 있다본 기술에 의한 광양자테 레이저를 이용한 각도 및 고도 측정장치는 상부반사판과 하부반사판 사이에 판상구조로 형성되어 그 테두리 부근에서 판상면의 수직선에 대한 시각도에 따라 각각 다른 파장의 빛을 발진시키는 광양자테 레이저, 광양자테 레이저에서 발진된 빛을 굴절 및 반사시키는 반사표적, 반사표적에서 굴절 및 반사된 빛을 모아 그 파장 특성을 검출하는 광 스펙트럼 분석기를 포함하여 구성되어 있다. 광양자테 레이저는 기판 위에 판상구조로 형성되어 상부에서 전달된 빛을 다시 상부로 반사시키는 하부 반사판, 하부 반사판 위에 판상구조로 형성되어 외부에서 주입된 전자와 정공이 결합하여 판상면의 수직선에 대하여 임의의 시각도로 빛을 발생시키는 활성층, 활성층 위에 판상구조로 형성되어 하부에서 전달된 빛을 다시 하부로 반사시키는 상부 반사판, 하나 이상의 전극으로 구성되어 활성층에 상하부에서 전자와 정공을 공급하는 접속층을 포함하여, 활성층에 주입된 전자와 정공이 결합하여 판상면의 수직선에 대하여 임의의 시각도로 빛을 발진시킨다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 3D PQR 레이저에서 각도에 따라 다른 파장을 발진되는 성질을 이용하여 일정한 구조물의 각도 및 고도 측정이 가능하다는 효과가 있다
- 보유기관
- 포항공과대학교
- 등록일
- 2001-05-04
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 기술은 광섬유나 광도파로의 표면을 스캔하면서 표면에 서로 다른 파장을 갖는 세 개의 레이저빔을 투사하여 스캔하는 높이를 일정하게 유지시킨 상태에서 위치에 따른 표면에서의 반사율 변화를 측정하여 광섬유나 광도파로의 굴절률 분포를 측정하는 장치 및 방법에 관한 것이다.기존의 광섬유나 광도파로의 표면의 굴절률구조를 측정하는 방법에는 광섬유나 광도파로의 측면으로 빛을 입사시켜 굴절률구조에 의한 빛의 굴절정도를 측정하는 방법과, 주사 근접광 현미경을 사용하여 광섬유나 광도파로의 표면에 빛을 투사하고 광섬유의 굴절률 분포에 따른 반사율의 차이를 측정하는 방법이 있다. 그러나, 굴절현상에 의한 굴절정도를 측정하는 방법은 빛의 회절현상 때문에 미세한 광섬유나 광도파로의 구조에 따른 굴절률 분포를 측정하기 힘들다는 단점을 가지고 있다. 주사 근접광 현미경에 의한 방법은 신호 대 잡음의 비가 낮아서 측정하려는 굴절률의 미세한 변화를 측정하기 힘들고 프로브와 측정하려는 광섬유나 광도파로의 단면과의 거리변화가 조금만 있어도 측정에 많은 오류가 발생하는 단점을 가지고 있다.따라서, 본 기술은 기존의 굴절현상을 이용한 측정장치에 비하여 보다 간단하고 높은 공간 분해능과 안정성을 가지며 기존의 주사 근접광 현미경을 이용한 측정장치에 비하여 높은 신호 대 잡음비를 갖는 매우 정밀하게 굴절률 분포를 측정할 수 있는 광섬유나 광도파로 표면의 굴절률 구조 측정장치 및 방법을 제공하고자 한다.본 기술에 의한 광섬유나 광도파로 표면의 굴절률 구조 측정장치는 광섬유 끝에서 나온 서로 다른 세 개 파장의 레이저 빛의 초점을 형성하거나 굴절률 구조를 측정하려는 반사파 표면에서 반사되어 나온 빛을 다시 광섬유에 유도하는 렌즈와, 짧은 파장의 레이저와 긴 파장 레이저의 빛으 세기 차이에 의해 가해진 전압에 비례하여 광섬유 끝과 렌즈 사이의 거리를 조절하는 압전변환기와, 서로 다른 파장의 레이저의 빛을 한 광섬유를 통해 유도하거나 반사되어 나온 빛을 해당하는 레이저를 향하여 진행하도록 하는 파장분할 다중화기와, 서로 다른 파장의 레이저의 빛을 분할하거나 결합하는 광섬유 커플러와, 광섬유 커플러를 통해 나온 레이저 빛의 세기를 측정하는 광섬유 검출기와, 광섬유 검출기에서 나온 빛의 세기에서 광섬유 검출기에서 나온 빛의 세기를 빼어 증폭하는 차동 증폭기와, 광섬유 검출기에서 검출된 중간 파장 레이저의 반사된 빛의 세기를 측정할 수 있도록 반사면 표면을 스캔하는 x축 스캐너 및 y축 스캐너를 포함한다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 기존 굴절현상을 이용한 측정장치에 비하여 높은 공간 분해능을 가지며 주사 근접광 현미경을 이용한 측정장비에 비하여 높은 신호 대 잡음비를 가지므로 측정오차를 매우 작게 할 수 있고 미세구조의 광섬유나 광도파로의 설계와 제작에 있어서 꼭 필요한 굴절률 분포에 관한 측정을 매우 정밀하게 할 수 있는 효과가 있다. 또한, 상용화된 기존의 굴절률 측정장치에 비하여 측정 방법이 매우 간단하며 고가장비가 필요치 않으므로 상용화하기가 용이하다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-05-18
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 기술은 실제 시스템에서의 응용을 위한 원격조정 및 외부환경 조건에 민감하지 않은 광섬유의 색분산 특성 측정 방법을 제시함으로써 실제 필드에서의 전송선으로서 장거리 광섬유의 색분산 측정 및 광섬유 소자와 같은 단거리 광섬유에 대한 정확한 색분산 측정을 위한 시스템 구현이 가능토록 하는 기술에 관한 것이다.기존의 색분산 측정시스템에서 모드락킹과 Q스위칭된 Nd:YAG 레이저로 펌핑시키는 실리카 광섬유 라만 레이저를 이용하면, 1.1∼1.7㎛의 비교적 넓은 파장대에 대한 측정은 가능하나, 모노크로미터를 필요로 함으로서 시스템의 소형화가 어려운 단점이 있다. 또한, 6개의 InGaAsP 반도체레이저 어레이를 이용하게 되면 소형화는 가능하나, 파장분할 다중화기를 필요로 함으로서 시스템 제작에 비용이 많이 든다. 따라서, 본 기술은 실제 필드에서의 전송선으로서 장거리 광섬유의 색분산 측정을 위한 시스템 구현이 가능토록 하는 광섬유의 색분산 측정시스템 및 측정방법을 제공하고자 한다.본 기술에 의한 광섬유의 색분산 측정 시스템은 이득 스위칭에 의한 광펄스를 생성하는 다모드 레이저 다이오드와, 생성된 광펄스를 증폭시키는 광섬유증폭기와, 증폭된 광출력 펄스를 통과시켜 다모드 레이저 다이오드의 각 모드를 분리함으로써 기준 신호를 생성하는 고분산광섬유와, 고분산광섬유에 의해 분리된 각 파장에 대한 광펄스를 기준신호로 하고 이를 통과시켜 색분산 특성에 의한 광펄스 간격을 변화시키는 테스트 광섬유와, 테스트 광섬유의 색분산 특성에 의해 변화된 광펄스를 고속 검출하는 고속 광검출기와, 검출된 광펄스의 색분산을 측정하는 RF 스펙트럼 분석기를 포함한다.본 기술에 의한 광섬유의 색분산 측정 방법은 다모드 레이저 다이오드의 이득 스위칭에 의한 펄스열을 생성하고, 고분산 광섬유에 의한 모드 분리를 이용하여 파장이 각기 다른 다파장 펄스열을 생성시킴으로써 파장이 다른 다파장 펄스열이 한 경로를 지나가면서 광섬유의 색분산에 의한 시간 지연을 주파수 영역에서 측정한다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 반도체 레이저를 광원으로 이용하므로 0.7∼1.6㎛의 넓은 파장 영역에 대한 측정이 가능하다. 다모드 FP-LD를 이득스위칭하여 생성된 펄스를 광원으로 이용하므로 시스템의 저가화 및 소형화가 가능하다. 시간지연 방법을 이용하되 이에 대한 측정은 주파수 영역에서 RF 스펙트럼분석기로 측정함으로서 장거리 뿐 아니라 1m 이내의 단거리 광섬유에 대한 측정도 가능하다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-05-18
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 기술은 1마이크론 이하의 미세 거리를 오차없이 측정하도록 한 광섬유 간섭계를 이용한 미세 거리 측정 장치에 관한 것이다.기존의 광간섭계 즉, 마이켈슨형 및 마하젠더형 광간섭계를 이용한 미세 거리 측정 장치는 기준이 되는 간섭계의 경로 즉, 반사체의 거울과 빔스플리터가 공기에 노출되어 있어 기준이 되는 거리가 외부의 압력, 온도 또는 진동에 의해 영향을 받게 되고 따라서 기준이 되는 거리가 변화하게 되어 측정하고자 하는 거리에 오차가 발생함에 따라 절대적인 측정값을 얻을 수 없게 되는 문제가 있었다.따라서, 본 기술은 기준이 되는 광간섭계의 한쪽 경로를 광섬유로하여 외부의 공기의 흐름이나 온도 및 압력의 변화 또는 외부 진동에 의해서 간섭계의 기준이 되는 경로가 변화함으로 인해 파생되는 측정 오차를 줄이고자 한다.본 기술에 의한 광섬유 간섭계를 이용한 미세 거리 측정 장치는 광원의 선폭이 좁은 레이저 광원과 광원에서 방출된 빛을 커플링하여 같은 세기의 빛을 분할하여 단일모드 광섬유를 통해 측정 경로와 기준 경로로 전달하고, 반사되는 빛을 커플링하여 전달하는 광섬유 결합기와, 기준 경로상에 배치되어 광섬유 결합기에서 분할되어 전달되는 빛을 반사시키는 광섬유 거울과, 기준 경로상에 배치되어 광섬유 거울에 의해서 반사되는 빛의 편광상태와 측정 경로로부터 반사되는 빛의 편광 상태를 일치시키는 광섬유 편광 조절기와, 측정 경로상에 배치되어 광섬유 콜리메이터에서 직선으로 전달되는 빛을 광섬유 콜리메이터로 반사시키는 거울과, 광섬유 결합기의 커플링과정에 의해 발생하는 빛에 의한 간섭무늬의 세기를 검출하는 광검출기 및 광검출기에서 검출되는 간섭무늬의 위상을 실시간으로 계산하여 측정자에게 디스플레이하는 마이크로 프로세서를 포함하여 구성되어 있다.이와 같이 이루어진 본 기술에 의하면, 빔스플리터를 사용하지 않고 기준이 되는 간섭계의 한쪽 광경로에 광섬유 거울을 사용하여 기준이 되는 경로가 공기에 노출되는 것을 방지하므로써, 공기의 흐름이나 온도 및 기압의 변화로 인해 생기는 측정 오차를 현저하게 줄일 수 있다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-20
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일반기술
물리학 > 기타 광학
휴대용 송신기와 고정국 수신기로 구성되어 있다. 송신기에 누름 key switch의 정보를 적외선 변조에 의해 코드신호로 바꾸며 송신하고, 수신기 측에서 對壓하는 접점신호 등으로 변환한다. 고신뢰성의 공업용 리모트 콘트롤이기 때문에, 로봇이나 기계 등의 운전조작에 사용할 수 있고, 계측 데이터의 광통신 등에도 응용할 수가 있다. 그리고, 송수신기 내부의 블록스위치로 복수 대 한 대 또는, 복수 대 복수의 통신도 가능하다.신호도착거리 : 20-50m(특수주문으로 10m의 실적 있음)송신 누름 key switch : 30-60CH 및 Function Key 5-8CH송신기 지향각 : 좌우 70도, 상하 40도표시램프 : 전원, 충전, 송신(3색 발광)전원 : 충전식 전지 사용형태 : 소형, 계량 Handy TypeInterface : RESET 신호Interface : OPEN COLLECTER 출력SYSTEM CODE : 4 bits표시램프 : 수신 OK(녹색) 수신 NG(적색) 송신허가(노란색)
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-19
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일반기술
물리학 > 기타 광학
고정밀 유량 송신뿐만 아니라 기준 체적 유압 측정 방법으로 플랜트의 검사 비교에 사용할 수 있는 레이저 유량 송신기로 유압, 광학 그리고 전자 트랜스듀서로 구성되어 있다. 트랜스듀서는 분리형이며, 광학 트랜스듀서가 유압상에 고정, 단일 케이스 형태로 이루어져 있다. 동작 매질은 물이며, 동작 온도는 20-40도C, 동작 매질 압력은 0.6 MPa이상, 출력 신호는 TTL 레벨의 주파수, DN은 15, 25, , 80, 150mm, 유량 측정 범위는 0.012-2, 0.02-2, 0.4-40, 0.6-60, 1.5-150, 2.5-250,m^3/h, 주요 허용 가능 상대 오차는 0.15%의 특성을 가진다. 러시아 또는 외국의 비슷한 계측기는 없다.동작 매질은 물이며, 동작 온도는 20-40도C, 동작 매질 압력은 0.6 MPa이상, 출력 신호는 TTL 레벨의 주파수, DN은 15, 25, , 80, 150mm, 유량 측정 범위는 0.012-2, 0.02-2, 0.4-40, 0.6-60, 1.5-150, 2.5-250,m^3/h, 주요 허용 가능 상대 오차는 0.15%의 특성을 가진다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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물리학 > 기타 광학
요동 공기 흐름과 1000m/S^2까지 가속하의 회전 공정에서 회전 플랫폼의 직선과 각도 변형을 측정하는 레이저 간섭계로 레이저 광원 시스템, 간섭계 광학 유닛, 전자 기록 유닛의 3가지 유닛으로 구성되어 있다. 이 간섭계는 100kHz의 주파수에서 전기광학적 변조를 행하며 지시한 조건에서 아크의 1분 이내의 각도 변형이 측정될 때, 아크의 0.1초의 오차와 직선 변형이 측정될 때, 10mm의 범위에서 0.1마이크로 미터의 오차를 억압할 수 있는 시스템으로 다른 비슷한 제품은 없다.100kHz의 주파수에서 전기광학적 변조를 행하며 지시한 조건에서 아크의 1분 이내의 각도 변형이 측정될 때, 아크의 0.1초의 오차와 직선 변형이 측정될 때, 10mm의 범위에서 0.1마이크로 미터의 오차를 억압할 수 있는 시스템이다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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물리학 > 기타 광학
가시광선 UV와 IR 범위에서 스펙트럼 해석, 의학 진단, 플라스마 기술 공정 감시, 정량 가스 분석, 색도계를 위한 방사 스펙트럼 측정을 행하는 음향 광학 분광계로서 동작 원리는 결정에서 초음파에 의해 생산된 위상 회절 격자상의 해석을 위한 방사의 회절 현상에 기초한다. 결과로 생기는 파라미터 상호 작용은 분광기 계측 확산 함수를 결정하는 좁은 스펙트럼 "투명 윈도우"를 만들어 낸다. 이 윈도우의 중앙 파장은 음파 주파수에 의해 결정되며 파장을 넘어 " 투명 윈도우"에 동조할 수 있다. 직교 편광을 가진 회절된 방사는 분석기에 의해 선택되며 광전기 검출에 의해 기록되고 분석된 방사 밀도 특성이 출력 신호로 나타나게 된다.직교 편광을 가진 회절된 방사는 분석기에 의해 선택되며 광전기 검출에 의해 기록되고 분석된 방사 밀도 특성이 출력 신호로 나타나게 된다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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물리학 > 기타 광학
재료 및 구조물 요소의 비파괴적 시험의 조사에 텔레비젼 광학 계측 시스템인 TOMS로 재료 및 구조물의 표면적의 변형을 평가하고 그 내용연수를 예측할 수 있다. TOMS의 작동은 표면 마이크로릴리이프의 광학 정보 분석과 결합된 이질 매체의 물리적 메소매커닉의 주 원리에 기초한다. TOMS는 광학 현미경, 텔레비젼 카메라, 조명 장치, 특수 인터페이스, 제어 전원 공급장치 및 컴퓨터로 구성되어 있다. TOMS의 개조 모델에는 스캐닝 기구가 장착되어 있다. 관련 소프트웨어는 통계학적, 구조적, 그리고 프랙털 이미지 처리 알고리즘을 사용한다. 주요 기술적 특성은 다음과 같다. 조사시 표면의 최대 크기는 8*60 마이크로미터, 화상 요소의 수는 512*512 및 1024*1024, 그레이 스케일 수준은 256, 속도는 1.0-30.0 초, 해상도는 1-10 마이크로미터, 화상 정지 크기의 변형 파라미터의 추정 오류는 0.1-0.6 퍼센트이다. 결함 수정 탐지의 확률은 0.98 등이다. TOMS는 재료의 수명을 예측하는데 도움이 될 뿐만 아니라 변형된 부분이 파괴(예를 들면 균열)의 시각적 징후를 나타내기 이전에 고도로 정확하게 검출할 수 있다.조사시 표면의 최대 크기는 8*60 마이크로미터, 화상 요소의 수는 512*512 및 1024*1024, 그레이 스케일 수준은 256, 속도는 1.0-30.0 초, 해상도는 1-10 마이크로미터, 화상 정지 크기의 변형 파라미터의 추정 오류는 0.1-0.6 퍼센트이다. 결함 수정 탐지의 확률은 0.98이다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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물리학 > 기타 광학
집적 광전기 시스템은 기술적 시각 시스템, 자동차 운항의 작은 고도 비행과 착륙을 위한 정보 지원 시스템으로 집적 광전기 시스템은 기술적 시각 시스템, 자동차 운항의 작은 고도 비행과 착륙을 위한 정보 지원 시스템으로 도플러 레이저 레이다 기반 통합 광전기 시스템의 설계 원리, 자동 패턴 인식 알고리즘과 데이터 처리 조합, 실험을 위한 시스템의 기능 패턴이 있다.도플러 레이저 레이다 기반 통합 광전기 시스템의 설계 원리, 자동 패턴 인식 알고리즘과 데이터 처리 조합, 실험을 위한 시스템의 기능 패턴이 있다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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물리학 > 기타 광학
측정용 차량-실험실이 40km/h로 이동할 때의 장애물 유격 측정 장치에 대해 기술하였다. 측정 대상은 터널, 다리, 오버브리지, 동력 전달 라인 베어링 등이다. 측정 결과는 철도의 사용과 비표준 제품의 수송시에 활용된다.측정 결과는 철도의 사용과 비표준 제품의 수송시에 활용된다.
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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