일반기술
물리학 > 기타 광학
<기술개요 및 특징>관측 범위에 적합한 조도를 공급하도록 카메라에 공급되는 광량을 제어하는 카메라 줌에 따른 조명광량 제어방법 및 제어장치.원자력시설의 외부조명이 거의 없는 협소구역에 이용되고, 줌 컨트롤부에 의해 줌 렌즈가 자동조절되고, 초점조절부에 의해 카메라의 초점이 조절되며, 램프부에 의해 관측범위에 필요한 조도를 공급하는 마이크로 헤드 CCD 카메라시스템에 있어서; 상기 줌 컨트롤부에 의해 작동되는 줌 렌즈의 최대 줌 인/아웃시의 최적 관측조도에 필요한 전류를 각각 측정하여 설정하는 제 1 단계와, 상기 줌 컨트롤부에 의해 작동되는 줌 렌즈의 위치를 감지하는 제 2 단계와, 상기 감지된 줌 렌즈의 위치값에 따라 최대 줌 인/아웃시의 설정 전류값 범위내에서 최적의 관측조도에 필요한 전류를 공급하는 제 3 단계를 포함하여 이루어져 줌 렌즈의 위치에 따라 실시간내에 최적의 관측조도를 공급하는 것을 특징으로 하는 카메라 줌에 따른 조명광량 제어방법. 카메라 줌에 따른 조명광량 제어방법 및 장치에 관한 것으로, 그 목적은 협각의 범위에 적합한 조도를 공급하여 카메라의 전력소모를 줄이고, 램프의 수명을 연장하며, 정확하고 효과적인 관측을 할 수 있는 카메라 줌에 따른 조명광량 제어방법 및 장치를 제공함.카메라의 줌인/줌아웃시 줌 렌즈의 위치를 감지하여 관측범위에 따라 최적의 관측조도에 필요한 전류를 공급하여 전력 소모를 줄이고, 램프의 수명을 연장하며, 정확하고 효과적인 관측을 할 수 있는 카메라 줌에 따른 조명광량 제어방법 및 제어장치임.
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- 한국원자력연구원
- 등록일
- 2008-12-17
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물리학 > 기타 광학
<기술개요 및 특징>핵외부조명이 없는 지역에서 마이크로헤드카메라의 관측심도에 따라 램프에 의해 공급되는 광량을 제어하는 카메라용 조명광량 제어방법 및 장치임.원자력시설의 외부조명이 거의 없는 지역에 이용되고, 아이리스 콘트롤부에 의해 아이리스 렌즈가 자동조절되는 마이크로 헤드 CCD 카메라 시스템에 있어서; 상기 아이리스 콘트롤부에 의해 작동되는 아이리스 렌즈의 개구율 직경의 최대 커짐과 줄어듦에 따라 최적 관측심도에 필요한 전류를 각각 측정하여 설정하는 A 단계와, 상기 아이리스 콘트롤부에 의해 조정된 아이리스 렌즈의 위치를 인식하는 B 단계와, 상기 인식된 아이리스 렌즈의 인식값에 따라 A 단계에서 설정된 전류값 범위내에서 필요한 전류를 램프부로 제어·공급하는 C 단계를 포함하여 이루어져 아이리스 렌즈의 개구율에 따라 실시간내에 관측심도의 변화에 다른 최적의 관측조도를 공급하는 것을 특징으로 하는 카메라용 조명광량 제어방법. 카메라용 조명광량 제어방법 및 장치에 관한 것으로, 그 목적은 마이크로헤드카메라의 관측심도에 따라 램프에 의해 공급되는 광량을 제어하여 카메라의 전력소모를 줄이고, 램프의 수명을 연장하며, 정확하고 효과적인 관측을 할 수 있는 카메라용 조명광량 제어방법 및 장치를 제공원자력 시설의 칼란드리아 압력관 서포트 부위와 같이 외부조명이 거의 없는 지역에서 마이크로헤드카메라의 관측심도에 따라 램프에 의해 공급되는 광량을 제어하여 전력 소모를 줄이고, 램프의 수명을 연장하며, 정확하고 효과적인 관측을 할 수 있는 카메라용 조명광량 제어방법 및 장치를 제시함
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- 한국원자력연구원
- 등록일
- 2008-12-17
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일반기술
물리학 > 기타 광학
<기술개요 및 특징>소형 카메라이면서 고화질의 입체 영상을 얻을 수 있기 위하여, 사람의 눈과 같이 2 대의 영상 카메라가 물체와의 거리 변화에 적응하도록 하는 주시각(注視角) 제어 기능과 동시에 초점 제어 기능을 실현하는 스테레오 카메라에서 수평이동식 주시각 제어방법 및 장치임.두 대의 카메라 본체(1)와, 상기 카메라 본체에 대응하는 두 개의 렌즈(2)를 구비한 스테레오 카메라에서, 초점 제어를 위해 상기 렌즈(2)와 상기 카메라 본체(1)의 영상면과의 거리를 조절하는 소정의 영상거리 조절 수단과, 영상 시차량을 없애기 위한 소정의 시차거리 조절 수단과, 상기 두 거리 조절 수단을 상호 연동하게 하는 소정의 연동 수단을 사용하여 상기 두 거리의 어느 한 쪽의 거리가 조절될 때에 다른 한 쪽의 거리가 동시에 소정의 연동 관계에 따라 조절되는 스테레오 카메라의 수평 이동식 주시각 제어 방법에 있어서, 상기 시차거리 조절 수단에 의한 수평 이동량과, 상기 영상거리 조절 수단에 의한 수직 영상거리 이동량의 연동 관계는 아래의 선형 관계식으로 표현됨을 특징으로 하는 스테레오 카메라에서 수평 이동식 주시각 제어 방법: [dh } over {di } = {s } over {2f } 단, s 는 두 영상면 중심 간의 거리이고, f 는 렌즈의 초점 거리이며, dh 는 수평거리 이동량의 미소 변화량이고, di 는 수직거리 이동량의 미소 변화량이다. 영상면과의 거리를 조절하는 소정의 영상거리 조절 수단과, 영상 시차량을 없애기 위한 소정의 시차거리 조절 수단과, 상기 두 거리 조절 수단을 상호 연동하게 하는 소정의 연동 수단을 사용하여 상기 두 거리의 어느 한 쪽의 거리가 조절될 때에 다른 한 쪽의 거리가 동시에 소정의 연동 관계에 따라 조절되는 스테레오 카메라에서 수평이동식 주시각 제어방법 및 장치 제시함.
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- 한국원자력연구원
- 등록일
- 2008-12-17
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 종래의 촬영장치를 사용하는 일반적인 통념을 벗어나 오히려 촬영장치에 무작위적인 움직임을 부여하고 촬영 대상 목표도 무작위적으로 선택되도록함으로써, 독특하고 의외적인 영상을 용이하게 획득할 수 있도록 한다.종래 촬영장치는 정지영상을 촬영하는 카메라이건 동영상을 촬영하는 비디오카메라이건 촬영장치 자체는 움직임을 최소화한 상태에서 촬영하고자 하는 목표물에 맞추어 촬영이 이루어지도록 하는 것이 기본적인 개념이었다. 특히, 정지화상을 촬영하는 경우, 카메라는 삼각대 등을 사용하여 미세한 흔들림도 방지한 상태로 목표물을 촬영하는 것이 촬영된 영상의 품질을 높이는 주요한 기술로 인정받고 있어서, 대부분의 사용자들은 영상의 촬영시에 카메라의 움직임을 최소화하도록 노력하고 있다.또한, 동영상을 촬영하는 비디오카메라의 경우에도 비디오카메라의 많은 움직임이나 흔들림은 일반적인 사용자가 원하는 상태의 영상을 촬영하는 데에 방해가되는 요소로서, 가급적 비디오카메라의 움직임을 적게 하고 부드럽게 움직이면서 목표물을 촬영하도록 하는 것이 일반적이다.본 발명은 종래의 촬영장치를 사용하는 일반적인 통념을 벗어나 오히려 촬영장치에 무작위적인 움직임을 부여하고 촬영 대상 목표도 무작위적으로 선택되도록 함으로써, 독특하고 의외적인 영상을 용이하게 획득할 수 있도록 한 무작위 촬영체를 제공함에 그 목적이 있다.이 발명의 무작위 촬영체는 구면체와; 상기 구면체의 외측으로 돌출되지 않은 상태에서, 상기 구면체로부터 보이는 외부를 촬영할 수 있도록 상기 구면체의 내부에 설치된 카메라모듈과; 상기 카메라모듈에 필요한 전원을 제공하도록 상기 구면체에 내장된 축전지와; 상기 구면체의 표면을 이루며 개폐 가능하게 설치된 도어와; 상기 도어에 의해 개폐되는 구면체 내측 부분에 적재된 낙하산과; 낙하시 상기 도어를 자동적으로 개방하는 도어개폐수단;를 포함하여 구성된다.
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- (주)티티엠시스
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 사건이나 사물을 관찰하기 위한 광학 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 평행하게 배치되는, 제1 광학 모듈 블록과 제2 광학 모듈 블록을 적어도 포함하는 복수의 광학 모듈 블록을 포함하되, 상기 제1 광학 모듈 블록은, 광 시야각(field of view: FOV)을 가지며, 넓은 관찰 영역에서 사건이나 사물을 검출하기 위한 제1 미러와, 상기 제1 미러보다 더 긴 초점 거리를 가지며, 상기 제1 미러에 의해 검출된 상기 사건이나 사물을 고해상도로 관찰하기 위한 적어도 하나의 제2 미러와, 상기 제1 미러 또는 상기 적어도 하나의 제2 미러에 의해 전달되는 신호로부터 광 신호를 검출하기 위한 제1 광 신호 검출부와, 상기 제1 미러, 상기 적어도 하나의 제2 미러 및 상기 광 신호 검출부를 그 내부에 구비하고, 상기 제1 미러 및 상기 적어도 하나의 제2 미러 각각에 대한 개구(aperture)를 더 구비하며, 상기 제1 미러 또는 상기 적어도 하나의 제2 미러로부터 상기 광 신호 검출부로의 광 경로를 제공하는 제1 보디(body)를 더 포함하고, 상기 제2 광학 모듈 블록은, 광 시야각을 가지며, 넓은 관찰 영역에서 사건이나 사물을 검출하기 위한 제3 미러와, 상기 제3 미러보다 더 긴 초점 거리를 가지며, 상기 제3 미러에 의해 검출된 상기 사건이나 사물을 고해상도로 관찰하기 위한 적어도 하나의 제4 미러와, 상기 제3 미러 또는 상기 적어도 하나의 제4 미러에 의해 전달되는 신호로부터 광 신호를 검출하기 위한 제2 광 신호 검출부와, 상기 제3 미러, 상기 적어도 하나의 제4 미러 및 상기 광 신호 검출부를 그 내부에 구비하고, 상기 제3 미러 및 상기 적어도 하나의 제4 미러 각각에 대한 개구를 더 구비하며, 상기 제3 미러 또는 상기 적어도 하나의 제4 미러로부터 상기 광 신호 검출부로의 광 경로를 제공하는 제2 보디를 더 포함하는 광학 모듈에 관한 것이다.
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- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 미러를 이용한 광학 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 (1) 넓은 시야각(field of view; FOV)을 가지며, 넓은 범위에서 관찰 대상을 검출하기 위한 목표 확인(triggering) 광학 모듈과, (2) 상기 목표 확인 광학 모듈보다 시야각은 좁으나 고분해능을 가지며, 관찰 대상을 상세 관찰하기 위한 입상(imaging) 광학 모듈과, (3) 상기 입상 광학 모듈 앞에 배치되며, 고속으로 반사각을 제어할 수 있는 미러와, (4) 상기 목표 확인 광학 모듈에서 검출된 대상이 관찰 대상인지 여부를 결정하고, 검출된 상기 대상이 관찰 대상인 것으로 결정되면 검출된 상기 대상으로부터의 광 신호가 상기 입상 광학 모듈에 입상되어 상세 관찰될 수 있도록 상기 미러를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다. 본 발명의 광학 시스템에 따르면, 목표 확인 광학 모듈에서 넓은 시야각(FOV)을 이용하여 관찰 대상을 검출하고, 검출된 관찰 대상을 고속으로 반사각을 변화시킬 수 있는 미러를 이용하여 고분해능을 갖는 입상 광학 모듈에 입상시켜 상세 관찰할 수 있도록 함으로써, 광시야각과 고분해능을 양립시킬 수 있을 뿐만 아니라 고속으로 이동하는 대상을 효과적으로 관찰할 수 있다.
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- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
편광간섭을 이용한 액정 디바이스의 다중 도메인 TN 격자 형성방법에 관한 것으로서, 액정 디바이스를 준비하고, 결맞음이 있는 광원으로부터 간섭계를 형성하고, 편광 간섭무늬를 형성하도록 간섭계를 구성하는 기록광의 각 팔의 편광을 조절하여 편광변조를 만들고, 편광변조가 형성되는 장소에 위치시킨 후 일측 방향으로 각도를 주고, 편광 간섭무늬를 일측 방향으로 각도를 준 액정 디바이스의 광배향막 상하기판에 기록하며, 액정 디바이스의 액정분자가 도메인에 따라 광배향막 상하기판에서 서로 다른 방향으로 정렬되어 비틀림 각이 형성된다. 따라서, 본 발명은 서로 반대 방향으로 진행하는 기록광으로 인해 형성되는 편광변조를 액정 디바이스의 광배향막에 기록하여 액정분자를 배향함과 동시에 비틀림 격자를 형성함으로써, 다중 도메인 TN 격자를 하나의 공정으로 만들 수 있는 효과를 제공한다.
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- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 정전력(electrostatic force)을 이용한 2축-구동 초미세 전기기계 시스템(Micro-Electro-Mechanical Systems; MEMS) 미러에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 (1) 기판과, (2) 기판 상에 마련되는 하부 실리콘층과, (3) 하부 실리콘층 상에 마련되는 층간절연막과, (4) 층간절연막 상에 마련되는 상부 실리콘층과, (5) 상부 실리콘층 상에 마련되는 미러 플레이트(mirror plate)를 포함하되, (6) 하부 실리콘층 또는 상부 실리콘층 중 하나는 구동 전압이 인가되는 구동부층이고, 나머지 하나는 접지 전압이 인가되는 접지층(ground layer)이며, (7) 구동부층은, 제1 축 방향으로 제1 전극, 제1 전극과 접속된 제1 스프링 구조, 제1 스프링 구조와 접속된 제1 빗살형 핑거(comb finger), 및 제2 전극, 제2 전극과 접속된 제2 스프링 구조, 제2 스프링 구조와 접속된 제2 빗살형 핑거를 대칭적인 형태로 포함하고, 제1 축 방향과 직교하는 제2 축 방향으로 제3 전극, 제3 전극과 접속된 제3 빗살형 핑거, 및 제4 전극, 제4 전극과 접속된 제4 빗살형 핑거를 대칭적인 형태로 포함하며, (8) 접지층은, 제1 축 방향으로 제1 스프링 구조와 대응하는 제3 스프링 구조, 제1 빗살형 핑거와 대응하는 제5 빗살형 핑거, 및 제2 스프링 구조와 대응하는 제4 스프링 구조, 제2 빗살형 핑거와 대응하는 제6 빗살형 핑거를 대칭적인 형태로 포함하고, 제2 축 방향으로 제3 빗살형 핑거와 대응하는 제7 빗살형 핑거, 제5 스프링 구조, 및 제4 빗살형 핑거와 대응하는 제8 빗살형 핑거, 제6 스프링 구조를 대칭적인 형태로 포함하며, (9) 접지층은, 제3 스프링 구조, 제4 스프링 구조, 제5 스프링 구조, 제6 스프링 구조, 제7 빗살형 핑거 및 제8 빗살형 핑거와 각각 접속되는 외부 짐벌(gimbal)과, 제5 스프링 구조, 제6 스프링 구조, 제5 빗살형 핑거 및 제6 빗살형 핑거와 각각 접속되는 내부 짐벌을 더 포함하고, 구동부층은 내부 짐벌과 대응하는 제2 내부 짐벌을 더 포함하며, (10) 제1 빗살형 핑거와 대응하는 제5 빗살형 핑거, 제2 빗살형 핑거와 대응하는 제6 빗살형 핑거, 제3 빗살형 핑거와 대응하는 제7 빗살형 핑거, 및 제4 빗살형 핑거와 대응하는 제8 빗살형 핑거는 각각 빗살형 구동부(comb actuator)를 형성하며, (11) 미러 플레이트는 상부 실리콘층의 내부 짐벌 또는 제2 내부 짐벌 상에 마련되며, 내부 짐벌 또는 제2 내부 짐벌은 기판에 대하여 플로팅(floating) 상태를 유지하는 MEMS 미러에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 서로 직교하는 제1 축 방향 및 제2 축 방향으로 독립적으로 구동할 수 있으며, 입력 구동 전압에 대응하여 특정 각도로 움직이도록 아날로그 방식으로 제어할 수 있고, 큰 각 변위의 구현이 가능하며, 채움-인자가 크게 향상된 독립적 2-축 구동 MEMS 미러를 정전력을 이용하여 구현할 수 있다.
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- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 MEMS 미러에서 미러 판을 정전 구동부에 결합하는 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 (1) 구동부의 에칭 과정에서, 미러의 중심부에 구동부가 기판과 닿을 수 있도록 제1 면적의 지지 포스트(supporting post)를 남겨두는 단계와, (2) 미러 판의 바닥 면에 제1 면적보다 더 넓은 제2 면적의 받침대(pedestal)를 패터닝하는 단계와, (3) 받침대를 이용하여 미러 판을 구동부에 결합하는 단계와, (4) 지지 포스트를 제거할 수 있도록, 제1 면적보다는 넓고, 제2 면적보다는 좁은 제3 면적으로 에칭하는 단계를 포함하는 미러 판과 구동부의 결합 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 구동부의 에칭 과정에서 미러의 중심부에 구동부가 기판과 닿을 수 있도록 소정의 면적의 지지 포스트를 남겨두었다가 이 지지 포스트를 이용하여 미러 판을 구동부에 안전하게 결합한 후, 지지 포스트의 면적보다 넓은 면적으로 에칭하여 지지 포스트를 제거함으로써, 미러 판을 구동부와 결합하는 과정에서 구동부가 파손될 가능성을 크게 줄일 수 있다. 대표청구항 - 미러 판(MIRROR PLATE), 상기 미러 판을 정전력(ELECTROSTATIC FORCE)으로 구동하는 구동부, 및 기판을 차례대로 포함하는 초미세 전기기계 시스템(MICRO-ELECTRO-MECHANICAL SYSTEMS; MEMS) 미러에서, 상기 미러 판을 상기 구동부와 결합(BONDING)하는 방법으로서,상기 구동부의 에칭 과정에서, 상기 구동부가 상기 기판과 닿을 수 있도록, 상기 미러의 중심부에 제1 면적의 지지 포스트(SUPPORTING POST)를 남겨두는 단계;상기 미러 판의 바닥 면에 상기 제1 면적보다 더 넓은 제2 면적의 받침대(PEDESTAL)를 패터닝하는 단계;상기 받침대를 이용하여 상기 미러 판을 상기 구동부에 결합하는 단계; 및상기 지지 포스트를 제거할 수 있도록, 상기 제1 면적보다는 넓고, 상기 제2 면적보다는 좁은 제3 면적으로 에칭하는 단계를 포함하는 방법.
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- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
*방사선 환경에서 사용되는 폴리카본네이트 재료의 방사선유도 퇴화를 재료 표면에 DLC 박막을 증착시켜 산화반응을 차단함으로서 수명을 연장시키는 방법*종래 내방사선 폴리머재료 생산과정에서 안정화제를 첨가하므로서 내방사선 특성을 개선시켜왔으나 공기중(산소분위기)사용시 그 효과가 감소하며, 수요가 적은 특정 폴리머재료 부품의 생산에는 제한적임*본 기술은 방사선 환경에서 사용되는 폴리카본네이트 재료의 수명을 연장하여 그로 인한 안정성과 경제적 이득을 증대시키고자 방사선 환경에서 사용되는 폴리카본네이트 재료의 표면에 화학적으로 불활성인 DLC 박막을 증착시켜 폴리카본네이트 재료의 방사선-유도로 인한 퇴화속도를 감소시켰다.
- 보유기관
- 한국원자력연구원
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
플라즈모닉 나노에서 후면으로 반사되는 광을 계측하여 개구 전면에 위치한 계측 대상의 물리적 특성을 계측하는 장치를 구성한다. 플라즈모닉 나노 개구의 전면에 측정대상이 존재하게 되면, 측정대상의 유전율, 대상과의 거리, 대상의 구조 변화에 따라 나노 개구 전방에 형성되는 전기장의 분포가 바뀌게 되고 이에 따라 나노개구 후방으로 반사되는 광의 반사율도 따라서 바뀌게 된다. 플라즈모닉 나노 개구의 후방 진행광은 나노 개구로 입사되는 광의 편광특성과 측정대상에 따라 다른 특징을 보이게 된다. 따라서, 플라즈모닉 나노 개구의 후방 진행 광 측정장치를 구성하기 위해서는 사용하는 광의 편광 조절장치와 측정 광의 편광특성 계측장치 등을 조합하여야 하여 장치를 구성하여야 한다. 특히 본 장치는 굴절율의 변화, 흡수율의 변화 등 대상 물질의 물리적 특성 변화를 계측하게 되며, 형광을 방출하지 않는 대상에 대해서도 측정이 가능한 장점을 가지고 있다
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- 연세대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명의 목적은 대상 물질과 측정 시스템 사이의 미소 거리를 실시간으로(real time) 표식자 없이(non-labeling) 측정할 수 있으며, 표면 플라즈몬 공명 조건을 제어함으로써 측정 감도를 더욱 개선하고, 수 nm 단위까지의 거리 차이 측정이 가능한 표면 플라즈몬 microscopy 및 시스템 구현 방법을 제공하는 것이다. 본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 프리즘, 상기 프리즘 상단에 증착된 다층 금속 박막, 상기 금속 박막 상단을 형성하고 있는 유전 물질, 상기 유전 물질 상단에 측정 대상 물질이 이격되어 있도록 설계되어, 광원을 통해 조사되는 입사광에 의해 표면 플라즈몬 공명 현상을 발생시켜서 반사된 광이 수광부를 통해 검출되는 시스템을 제공한다. 광원으로부터 조사되는 광이 시스템에 대해 일정한 각도로 프리즘을 통해 입사하면 금속 박막의 경계면에서 전반사 되어 수광부로 입사되고, 소산파(evanescent wave)는 경계면에서 양쪽 방향으로 지수함수적으로 감소하지만, 특정한 제어 조건에서는 경계면과 평행한 방향의 파동벡터 성분이 금속 박막과 유전물질이 이루는 경계면을 따라 진행하는 표면 플라즈몬의 파동 벡터와 일치할 경우, 금속 박막과 유전물질의 경계면을 따라 진동하는 집단 전자 밀도 즉, 표면 플라즈몬 현상이 발생하여 입사광의 에너지는 대부분 흡수되고, 금속 박막의 경계면에서 반사되어 수광부로 입사하는 광의 세기는 현저하게 감소한다. 본 발명에서는 유전물질을 공기로 채택하여, 대상 물질의 위치 변화를 통해서 다층 금속 박막과 대상 물질 사이의 간극을 형성시키고, 이 간극의 변화에 따른 표면 플라즈몬 공명 현상의 발생 조건을 측정하는 방법을 제시했다. 이 때, 입사광의 파장과 프리즘, 금속박막, 공기, 대상물질의 유전율과 금속 박막과 공기층의 두께에 따라 표면 플라즈몬 공명 현상이 예민하게 반응하는데, 이를 통해 수광부에서 검출한 반사광의 세기를 이용해서 반사율을 측정하고, 입사각과 반사각을 비교하여 금속 박막과 대상 물질 사이의 미소 간극을 측정할 수 있다. 상기와 같은 본 발명에 따른 방법에 의하면 분석하고자 하는 미소 거리를 측정, 또는 평면적으로 이미지화함으로써 대상 물질의 미세 표면 형상을 빠른 시간 내에 보다 정확하고 구체적으로 파악할 수 있게 된다.
- 보유기관
- 연세대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 사건이나 사물을 관찰하기 위한 광학 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 광 시야각(field of view: FOV)을 가지며, 넓은 관찰 영역에서 사건이나 사물을 검출하기 위한 제1 미러와, 제1 미러에 의해 커버되는 넓은 관찰 영역의 일부를 각각 커버하는 복수개의 미러 셀로 구성되고, 각각의 미러 셀이 제1 미러보다 더 긴 초점 거리를 가지며, 제1 미러에 의해 넓은 관찰 영역 중 특정 위치에서 검출된 사건이나 사물을 특정 위치에 대응하는 미러 셀을 사용하여 고해상도로 관찰할 수 있도록 구성된 제2 미러와, 제1 미러 또는 제2 미러에 의해 전달되는 신호로부터 광 신호를 검출하기 위한 광 신호 검출부와, 제1 미러, 제2 미러 및 광 신호 검출부를 그 내부에 구비하고, 제1 미러 및 제2 미러 각각에 대한 개구(aperture)를 더 구비하며, 제1 미러 또는 제2 미러로부터 광 신호 검출부로의 광 경로를 제공하는 보디(body)와, 제1 미러에 의해 검출된 사건이나 사물이 관찰 대상인지 여부를 결정하고, 사건이나 사물이 관찰 대상인 것으로 결정되면 사건이나 사물의 위치를 파악하며, 이에 대응하여 제1 미러 및 제2 미러를 제어하는 제어부를 포함하되, 제어부가 제2 미러를 구성하는 미러 셀 중에서 제1 미러에 의해 검출된 사건이나 사물의 특정 위치에 대응하는 미러 셀에 대해서만 광 경로를 제공하고 나머지 미러 셀에 대해서는 광 경로를 차단하도록 제어하는 광학 모듈에 관한 것이다. 본 발명의 광학 모듈에 따르면, 광 시야각을 가지며 넓은 관찰 영역에서 사건이나 사물을 검출하기 위한 제1 미러와, 제1 미러에 의해 커버되는 넓은 관찰 영역의 일부를 각각 커버하는 복수개의 미러 셀로 구성되고, 각각의 미러 셀이 제1 미러보다 더 긴 초점 거리를 가지며, 제1 미러에 의해 넓은 관찰 영역 중 특정 위치에서 검출된 사건이나 사물을 특정 위치에 대응하는 미러 셀을 사용하여 고해상도로 관찰할 수 있도록 구성된 제2 미러를 포함함으로써 사건이나 사물을 효과적으로 관찰할 수 있다.
- 보유기관
- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-29
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 타일 프로젝션 디스플레이의 정렬방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 발명은 타일의 코너 각각에 광센서를 배치하고, 코너 각각에 광센서가 배치된 상기 타일에 샘플 이미지를 투사하고, 샘플 이미지 상에서의 광센서의 상대적 위치를 측정하고, 결정된 광센서의 상대적 위치에 기초하여, 상기 광센서가 상기 샘플 이미지의 정위치에 배치되도록 상기 프로젝터의 자유도를 조절하는 단계를 포함하여 이루어진, 투사된 이미지 상에서의 광센서의 상대적 위치 결정에 의한 타일 프로젝션 디스플레이의 정렬방법에 관한 것이다. 구체적으로, 본 발명의 방법은 (A) 코너 각각에 광센서가 배치된 타일에 샘플 이미지를 투사하는 단계, (B) 상기 투사된 샘플 이미지의 밝기와 다른 밝기를 갖는 빔을 사용하여 상기 투사된 샘플 이미지를 스캐닝하여 상기 샘플 이미지에 대한 광센서의 상대적 위치를 결정하는 단계, 및 (C) 결정된 광센서의 상대적 위치에 기초하여, 상기 광센서가 상기 샘플 이미지의 정위치에 배치되도록 상기 프로젝터의 자유도를 조절하는 단계를 포함하여 이루어진다. 본 발명에 따른 타일 프로젝션 디스플레이 정렬방법은 간편하고, 정확하고, 신속하게 정렬을 수행할 수 있다. 본 발명에 따른 타일 디스플레이 정렬방법은 정기적인 정렬이 요구되는 이동형 타일 프로젝션 디스플레이에 특히 적합하다.
- 보유기관
- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-31
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 광학 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 아날로그 방식으로 반사각을 제어할 수 있는 미러와, 상기 미러에 대하여 제1 위치에 배치되며, 상기 미러에 의해 전달되는 신호로부터 광신호를 검출하기 위한 제1 광신호 검출부와, 상기 미러에 대하여 상기 제1 위치와 다른 위치에 배치되며, 상기 미러에 의해 전달되는 신호로부터 광신호를 검출하기 위한 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부와, 상기 제1 광신호 검출부에서 검출된 대상이 관찰 대상인지 여부를 결정하고, 검출된 상기 대상이 관찰 대상인 것으로 결정되면 검출된 상기 대상이 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부 중의 적어도 하나에서 상세하게 관찰될 수 있도록 상기 미러를 제어하는 제어부와, 상기 미러, 상기 제1 광신호 검출부, 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부 및 상기 제어부를 그 내부에 구비하고, 상기 미러에 대한 개구(aperture)를 더 구비하며, 상기 미러로부터 상기 제1 광신호 검출부 또는 상기 적어도 하나 이상의 제2 광신호 검출부로의 광 경로를 제공하는 보디(body)를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
- 보유기관
- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-31
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일반기술
물리학 > 기타 광학
본 발명은 빔 발사가 가능한 광학 모듈에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 (1) 아날로그 방식으로 반사각을 제어할 수 있는 미러부와, (2) 상기 미러부에 대하여 설치되며, 상기 미러부로 입사되는 빛의 양을 조절하는 개구(aperture)와, (3) 상기 미러부에 의해 전달되는 신호로부터 광 신호를 검출하기 위한 광 신호 검출부와, (4) 상기 광 신호 검출부에 인접하게 배치되며, 빔을 발사할 수 있는 빔 발사부와, (5) 상기 미러부에 의해 상기 광 신호 검출부에서 검출된 대상이 상기 광 신호 검출부의 중심부에서 관찰되도록 상기 미러부를 제어하고, 또한 상기 미러부에 의해 상기 광 신호 검출부에서 검출된 상기 대상이 목표 대상인 것으로 결정되면 검출된 상기 대상을 향하여 상기 빔 발사부에서 빔을 발사할 수 있도록 상기 빔 발사부 및 상기 미러부를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다. 본 발명의 광학 모듈에 따르면, 아날로그 방식으로 반사각을 제어할 수 있는 미러부와, 미러부에 의해 전달되는 신호로부터 광 신호를 검출하기 위한 광 신호 검출부와, 광 신호 검출부에 인접하게 배치되어 빔을 발사할 수 있는 빔 발사부를 포함하고, 제어부가 미러부 및 빔 발사부를 제어하여 미러부에 의해 광 신호 검출부에서 검출된 대상을 향하여 빔을 발사할 수 있도록 함으로써, 광시야각 관찰과 상세 관찰이 모두 가능하며 특히 고속으로 이동하는 대상을 효과적으로 추적할 뿐만 아니라 대상을 향하여 빔을 발사할 수 있으며, 이에 따라 다양한 분야에 적용할 수 있게 된다.
- 보유기관
- 이화여자대학교
- 등록일
- 2008-12-31
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일반기술
물리학 > 기타 광학
해당 기술은 평면 디스플레이 백라이트의 도광판에 있어서, 상면은 외부로 나가는 빛의 출광량을 균일 상승하기 위한 사각뿔 형상의 렌즈렛(lenslet) 요철로 하며 상기 사각뿔 저면의 정사각형 크기가 0.5㎛ 내지 50㎛ 로 이루어지되 상기 사각뿔의 이등변 삼각형 내부각도(A)가 50° 내지 60°로 형성된 주기성 패턴과, 저면은 일측면에서 점광원을 투과하여 균일면광원으로 산란 및 확산하기 위하여 상기 점광원 타단측 일중심점에서 구형파 돌기 형상의 일정 크기 커지는 파면이 형성된 비주기성 패턴이 형성된 폭이 0.1㎛ 내지 20㎛인 것을 특징으로 하는 프리즘과 홀로그램 패턴 일체형의 도광판 및 그 제조방법에 관한 것이다. 이렇게, 도광판을 제조할 경우 도광판의 측면에서 투과되는 광 휘도를 크게 향상시키며, 도광판 상면의 출광원도 균일하게 상향 일직선 방출하여 균일 고휘도의 효과가 있다.
- 보유기관
- 고려대학교
- 등록일
- 2009-01-22
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일반기술
물리학 > 기타 광학
해당 기술은 나노선을 포함하는 전자 소자를 제작함에 있어, 기존의 광학 현미경 시스템을 이용할 수 있도록 회전 편광판과 고속푸리에변환을 사용하여 나노선 감지용 광학 현미경 시스템을 개발한 것에 관한 것이다. 본 광학 현미경 시스템은 광원을 생성하여 상기 생성된 광원을 나노선 소자용 시료에 제공하는 광원부 상기 광원부에서 제공된 상기 광원의 경로 상에 마련되며 상기 나노선의 광학적 이방성을 이용하여 상기 나노선 소자용 시료에 입사되는 광원의 편광 방향을 변조시키는 회전 편광판 상기 회전 편광판에서 편광되어 상기 나노선 소자용 시료에 입사된 광원을 이용하여 상기 나노선 영상을 검출하는 광학 현미경; 상기 광학 현미경의 일 영역에 마련되어 상기 광학 현미경에서 검출된 상기 나노선 영상을 촬영하여 저장하는 CCD 카메라 및 상기 CCD 카메라를 통해 저장된 상기 나노선 영상을 고속 푸리에 변환 처리하는 데이터 처리부를 포함한다. 이에 따라, 나노선의 광학적 이방성으로 인하여 나노선에 입사하는 빛의 편광 방향에 따라 반사광의 세기가 변화한다. 일정한 주기로 회전하는 편광판을 통과한 광원을 나노선에 입사한 후 반사광 이미지를 일정 시간 간격으로 얻은 후 영상을 각 픽셀별로 고속푸리에변환 처리함으로 나노미터 선폭을 갖는 나노선의 영상을 뚜렷하게 얻을 수 있다.
- 보유기관
- 고려대학교
- 등록일
- 2009-01-22
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일반기술
물리학 > 기타 광학
해당 기술은 광굴절 덴드리머 화합물 및 이의 응용방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 해당 기술은 트리시아노 피롤린(tricyanopyrroline) 계열의 전자끌게를 함유하는 비선형 발색단 및 전하수송 특성이 우수한 카바졸 유도체를 포함하는 하기 구조식 1 또는 구조식 5로 기재되는 광굴절 덴드리머 화합물, 상기 광굴절 덴드리머 화합물의 제조방법, 상기 광굴절 덴드리머 화합물이 포함된 광굴절 소자 및 상기 광굴절 소자의 제조방법에 관한 것이다. 해당 기술의 광굴절 덴드리머 화합물은 덴드론에 비선형 광학 발색단과 카바졸을 도입하여 한분자내에 광전도성과 비선형광학 특성을 동시에 부여함으로써 기존 광굴절 재료에서 광전도성물질과 발색단 사이의 좋지 못한 상용성으로 인해 야기되는 안정성 문제를 해결할 수 있으며, 아울러 근적외선 감응형 비선형광학 발색단을 사용함으로써 생물학적 이미징 기술에 응용할 수 있다.
- 보유기관
- 고려대학교
- 등록일
- 2009-01-22
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일반기술
물리학 > 기타 광학
□ 기술견적과 경제적 이익 ● 넓은 전도율(0.21-2.3㎛) ● 충분히 높은 비선형 급회전 ● 높은 쇠퇴 역치 ● 좋은 화학적, 기계적 재산 ● 온도-의존 비임계적 양상 동기성(NCPM) 비율은 1.0-1.3㎛ ● 동기성의 첫번째 양상을 통한 두번째 고조파 발생(타입 1 SHG) ● 두번째 고조파의 발생을 위한 실내 온도에서 비임계적 양상 동기성 비율은 0.8-0.11㎛ ● 낮은 질의 광선과 레이저를 위해 결정을 적절하게 만드는데 있어서 상대적으로 넓은 각의 동기성 □ 적용분야결정은 다음과 같은 광선 장비에 사용된다. ● 네오디뮴을 위한 고조파 발생: YAG(야그), 알렉산드라이트, 티타늄:사파이어, 염료, 초단파 펄스 광선 ● 파라메트릭 광선 발생기의 제작
- 보유기관
- (재)송도테크노파크
- 등록일
- 2009-02-20
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