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일반기술 물리학 > 기타 원자 / 분자 물리

얼굴 애니메이션을 위한 디에스엠 복원 방법

본 발명은 비정형 3차원 점들의 집합으로부터 직접 얼굴 모델을 디에스엠(DSM : Displaced Subdivision Mesh)으로 복원할 수 있도록 함으로써 얼굴 애니메이션에 편리함을 제공해주도록 한 얼굴 애니메이션을 위한 디에스엠(DSM) 복원방법에 관한 것으로서, 이러한 본 발명은, 입술의 경계를 자동으로 생성하여 스캔 모델에 적용하고, 메쉬(mesh)의 양을 최대로 줄여서 모델의 전송에 효율성을 높인다. 즉, 송신할 때는 적은 양의 얼굴 모델을 전송하고, 수신측에서 웨이블릿(wavelet)을 이용하여 다시 원래대로 복원해낼 수 있도록 한다. 또한, DSM 단계의 조절이 가능하므로 시점 거리에 따라 단계를 조절하여 효과적으로 모델을 애니메이션시킬 수 있도록 하며, 근거리에서는 완전히 애니메이션을 시키고, 일정 거리 이상에서는 입이나 이마 등의 주요 부분만 애니메이션시킬 수도 있다.얼굴 애니메이션을 위한 디에스엠(DSM : DISPLACED SUBDIVISION MESH) 복원 방법에 있어서, 3차원 스캔 얼굴 데이터를 입력받은 후, 포인트 클라우드 데이터로 컨트롤 메쉬를 생성하는 제1단계와; 복원된 서브디비전 마스크를 이용하여 변위 맵을 생성하는 제2단계와; 상기 생성한 컨트롤 메쉬의 애니메이션을 위한 RETARGETED 컨트롤 메쉬를 생성하는 제3단계와; 상기 생성한 RETARGETED 컨트롤 메쉬로부터 다단계 DSM으로의 표정을 부여하여 RETARGETED 서브디비전 메쉬를 생성하는 제4단계와; 상기 생성한 컨트롤 메쉬와 변위 맵을 이용하여 모델의 상세화를 조절하기 위한 분석 필터 및 합성 필터를 생성하는 제5단계와; 상기 생성한 RETARGETED 서브디비전 메쉬에 상기 분석 필터 및 합성 필터를 적용하여 RETARGETED DSM을 생성하는 제6단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 얼굴 애니메이션을 위한 디에스엠(DSM) 복원 방법.

보유기관

고려대학교

등록일

2006-05-11

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일반기술 물리학 > 기타 원자 / 분자 물리

ＺｒＡｌＯ를 하지층 또는 상지층으로 사용한 다층 구조를지닌 소자

* 본 기술의 원리 및 작용본 기술은 비정질 Zr 및 AlＯ를 하지층 또는 상지층으로 사용한 다층 구조를 포함하는 소자에 관한 것으로, 제조 공정시 기판 상에 형성되는 자기 저항 구조체 등이 안정되게 형성되며, 열처리 등에 의해서 그 성능이 유지될 수 있다.* 본 기술의 배경종래에는 자기저항소자의 하지층 또는 상지층에 일반적으로 탄탈륨(Ta)을 사용하였다. 그러나 제조 과정에서 고온의 열이 가해질 경우에 자기 저항비나 교환결합력 등의 주요 특성이 저하되는 경우가 있었다. * 본 기술의 중요성 및 독창성기존에는 하지층 또는 상지층으로 탄탈륨을 사용하였으나, 본 기술은 Zr 및 AlＯ 합금을 사용하여 고온공정을 거치거나 고온에서 사용되더라도 자기저항비의 주요 특성치가 안정적으로 유지될 수 있다는 데에 본 기술의 우수성이 있다.* 적용 제품 및 경쟁제품본 기술에서 제공하는 소자는 자기저항헤드 뿐만 아니라 MRAM 등 자기저항소자의 전반에 걸쳐 널리 응용시킬 수 있는 구조이다. 또한 다양한 형태의 다층 구조를 지닌 소자에 응용할 수 있다. * 본 기술의 특징 및 장점다층 구조를 지닌 소자의 하지층 또는 상지층으로 비정질 Zr 및 Al 합금을 사용하여 고온 열처리 등의 공정을 거치는 경우에도 MR ratio 값(Magnetoresistance Ratio : 자기 저항비)나 교환결합력 등의 주요 특성이 저하되는 것을 효과적으로 억제할 수 있다.

보유기관

고려대학교

등록일

2006-05-18

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일반기술 물리학 > 기타 원자 / 분자 물리

위상지연값 자동 측정을 위한 시편-보상기 복합 회전형 분광타원해석기

본 발명은 광학적 비등방 물질에서의 위상지연값 측정장비에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 광학적인 단일 광축을 가진 비등방성 투명시편에 있어 투과시 입사한 빛의 편광방향에 따른 위상지연차를 측정할 수 있는 광측정 장치에 관한 것이다. 본 발명의 목적은 기존의 회전편광기형 또는 회전분석기형 타원해석기에다가 회전하는 보상기와 회전하는 시편장착대를 부착시켜 회전시키되, 그 회전비를 일정 비율로 동기화시킴으로 해서 시편의 위상지연 값과 광축방향을 캘리브레이션 과정없이 자동적으로 측정하고자 하는데 있다. 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 시편-보상기 복합회전형 타원해석기는 광원인 발광부와 고정된 편광기, 일정속도 또는 각도로 회전하는 보상기, 그리고 보상기와 다른 비율의 속도 또는 각도로 회전하는 시편장착대, 고정된 편광기, 분광기, 그리고 다중채널 검출기가 장착된 수광부로 구성이 된다.편광을 이용하여 투명 복굴절 시편의 위상지연값을 측정하는 장비의 새로운 구조 및 작동원리에 관한 것이다. 시편과 보상기를 특정 각속도비로 회전하도록 한 원리로써 시편이 지닌 위상지연값을 자동으로 측정해 내도록 하고 있다. 복잡한 광부품 제어용 콘트롤러가 없이 제작이 가능하고 또한 다중채널검출기를 도입함으로써 빠른 시간안에 넓은 파장영역의 값을 정확하게 측정해 내도록 하고 있다. 일반적으로 위상지연값을 측정하기 위해서는 해당 장비에 사용하는 광부품의 위치각을 찾아내어야 하는 선행측정과정이 필요한데, 이 과정은 측정 시간이 많이 걸리고, 각종 실험오차를 내포하는데 본 발명에서는 원리상 이 모든 단점을 배재하고 있다.

보유기관

한양대학교

등록일

2006-05-18

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