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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
본 기술은 광양자테(photonic quantum ring: PQR) 레이저를 이용한 각도 및 고도 측정 장치에 관한 것으로서, 광양자테 레이저가 시각도에 따라 다른 파장의 빛을 발진시키는 성질을 이용한 각도 및 고도 측정 장치에 관한 것으로, 시각도에 따라 각각 다른 파장의 빛을 발진하는 광양자테 레이저를 이용한 각도 및 고도 측정 장치를 제공하는 것이다.상술한 목적을 달성하기 위한 본 기술에 따른 광양자테 레이저를 이용한 각도 및 고도 측정 장치는: 상부반사판과 하부반사판 사이에 판상구조로 형성되어 그 테두리 부근에서 판상면의 수직선에 대한 시각도(θ)에 따라 각각 다른 파장의 빛을 발진시키는 광양자테(photonic quantum ring) 레이저와, 상기 광양자테 레이저에서 발진된 빛을 굴절 및 반사시키는 반사표적과, 상기 반사표적에서 굴절 및 반사된 빛을 모아 그 파장 특성을 검출하는 광 스펙트럼 분석기(optical spectrumanalyzer)를 포함한다.본 기술에 따르면 3D PQR 레이저에서 각도에 따라 다른 파장을 발진되는 성질을 이용하여 일정한 구조물의 각도 및 고도측정이 가능하게 된다.
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- 포항공과대학교
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- 2001-05-17
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
종래의 이러한 장치는 소형화, 이물질의 혼입문제, 내구성 등에 문제가 있었다. 이 발명에 의한 지문조회 장치는 광섬유 다발을 열융착한 이미지 전송체와 CCD(전하 결합 소자)를 조합시킨 것으로, 지문의 요철 패턴을 과학적으로 검출한다. 이 구조로 소형화가 달성됨과 동시에 이물질의 혼입에 의한 화상의 열화가 없어 내구성도 뛰어난 소형지문 센서를 제공할 수 있다.1. 이미지 전송체와 CCD를 접속함에 따라 렌즈에 의한 結像을 없애고 소형화함.2. 이미지 전송체와 CCD 사이에 간격이 없기 때문에 이물질의 혼입을 방지.3. 하나의 패키지로 구성되어 진동에 의한 부품의 어긋남이 없어 내구성이 우수.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-19
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
최대 1 MPa 압력 90도C까지 온도를 재는 온수 체적과 40도C에서 수량계를 통과하는 냉수 체적 측정을 행하는 냉수 온수 수량계로 DN(직경) 15, 20, 25, 32, 40, 50mm 측정을 포함하여 2개의 정상 시리즈(각각 냉수 온수)를 가지고 있다. 이 측정기는 계수 장치와 탄젠셜 물공급을 가진 유압 트랜스듀서의 2개의 기능을 가진 어셈블리로 구성되어 있다. 수량계의 C급은 다음과 같은 값을 가진다. 최대 Qmax로부터 체적 측정의 상대적 오차는 온수 수량계에 대하여 +-3%, 냉수 수량계에 대하여 +-2.0% 이내로 제한된다. 천이 유량 Qt에서 최소 유량 Qmin(0.0075*Qmax) 범위 내의 유량에서 체적 측정의 상대적 오차는 냉수 수량계와 온수 수량계에서 +-5% 이내로 제한된다. 수량계의 측정 범위는 직경 15는 3 m^3/h까지, 직경 20은 5 m^3/h까지, 직경 25는 7 m^3/h까지, 직경 32는 12 m^3/h까지 ,직경 40은 20 m^3/h까지, 직경 50는 30 m^3/h까지이다. C급 추진기 수량계는 최소 유량비 값에서 통과되는 물의 체적을 측정하며, 다른 회사에서 제작한 단일 수량기들은 냉수 온수 수량계에서 제공하는 측정 범위에 이를 수 없다. 러시아 국내 또는 외국의 수량계에 대한 비슷한 제품이 없다. 수량계의 C급은 다음과 같은 값을 가진다. - 최대 Qmax로부터 체적 측정의 상대적 오차는 온수 수량계에 대하여 +-3%, 냉수 수량계에 대하여 +-2.0% 이내로 제한된다. 천이 유량 Qt에서 최소 유량 Qmin(0.0075*Qmax) 범위 내의 유량에서 체적 측정의 상대적 오차는 냉수 수량계와 온수 수량계에서 +-5% 이내로 제한된다. 수량계의 측정 범위는 직경 15는 3 m^3/h까지, 직경 20은 5 m^3/h까지, 직경 25는 7 m^3/h까지, 직경 32는 12 m^3/h까지 ,직경 40은 20 m^3/h까지, 직경 50는 30 m^3/h.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
냉수와 온수 수량계의 상태 평균 통합 오차는 전기적 출력 신호 또는 스타형 신호에 의해 결정된다. 유량 플랜트는 (물채널 영역) 생산 공장, 수량계 운용 장소에서 직접 사용할 수 있다. 동작 원리는 수량계를 통과하는 제어 물부피에서 얻어진 시험 수량계와 제어에 의해 얻어진 물부피의 측정 결과를 비교하여 측정한다. 측정 과정은 PC나 휴대용 컴퓨터의 지원 아래 자동화되어 있다. PROLIV-M10 유량 플랜트는 DN(직경) 10, 15, 20, 25, 32, 40, 50mm의 어느 유량계에서도 검사할 수 있으며 PROLIV-M50은 직경 50, 65, 80, 100, 150, 200, 250mm에 대하여 검사할 수 있다. 이 제품의 기술적 데이터는 측정 매질이 공공 물공급 시스템에 있는 휴대용 물, 측정된 매질 파라미터로는 온도 5-90도C, 압력 0.2-1 MPa, 검사 유량은 PROLIV-M10이 0.02-1.8, PROLIV-M50이 0.55-18이며, 유량 플랜트에 의해 측정된 제어 물부피의 평균 집적 상대 오차는 5-40도C의 온도에서 최대 +-0.5%, 40-90도C 매질 온도에서 +-0.75이며, 전력 공급은 AC 220V, 중량은 PROLIV-M10이 8kg, PROLIV-M50이 12kg이다. 외국의 어느 제품도 이와같은 성능의 제품을 제공할 수 없다.측정 매질이 공공 물공급 시스템에 있는 휴대용 물, 측정된 매질 파라미터로 : 온도 5-90도C, 압력 0.2-1 MPa, 검사 유량은 PROLIV-M10이 0.02-1.8, PROLIV-M50이 0.55-18유량 플랜트에 의해 측정된 제어 물부피의 평균 집적 상대 오차 : 5-40도C의 온도에서 최대 +-0.5%, 40-90도C 매질 온도에서 +-0.75이며, 전력 공급은 AC 220V, 중량은 PROLIV-M10이 8kg, PROLIV-M50이 12kg이다
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- 특허법인충정
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- 2001-06-13
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
부식 물체를 포함한 액체의 유량 측정과 차동 압력 게이지법을 이용한 시스템에서 관을 통과하는 가스의 유량 측정을 측정하는 유량계로 유체 유량계와 가변 압력 차동 측정기는 관을 통과하여 설치되고 피드백 채널에 의해 구성된 쌍안정 유체 소자이다. 매체가 관을 통과하여 흐르는 동안 능동 발진기에서 올라온 관을 통하여 매질 유량에 비례한 주파수 발진이 일어나게 된다. 주요 기술적 데이터로서 측정 범위는 40:1이며, 차동 압력 범위는 액체에서 0.1에서 160kPa, 기체에서 0.1에서 63kPa이며, 오리피스를 가진 완전한 상태에서 유량 측정 오차는 액체에서 1%, 기체에서 1.5%이며, 출력 신호는 0-5, 4-20mA, 주파수이며, 설계 버전은 방폭성(Explosion-proof)이다. 차동 압력 나노 측정기의 단점을 피하기 위하여 개발된 이 제품의 장점은 좁은 측정 범위(3:1), 측정된 매질 밀도상의 특성 의존성에 있다. 유체 유량계와 가변 압력 차동계는 높은 신뢰성(이동 부품이 없기 때문에), 손상과 영점 이동이 없는 압력하에서 큰 과부하에 견디는 성능과 기술적 생산 유효성을 가지고 있다. 외국의 비슷한 제품은 Moore Product사의 유량계가 있으며 국내(러시아)에서는 비슷한 측정기가 없다. 잠재적 사용자들은 화학 산업, 석유 산업, 물과 열 공급 설비 업체이다.1. 기술특징측정 범위는 40:1이며, 차동 압력 범위는 액체에서 0.1에서 160kPa, 기체에서 0.1에서 63kPa이며, 오리피스를 가진 완전한 상태에서 유량 측정 오차는 액체에서 1%, 기체에서 1.5%이며, 출력 신호는 0-5, 4-20mA, 주파수이며, 설계 버전은 방폭성(Explosion-proof)이다.2. 장점 좁은 측정 범위(3:1), 측정된 매질 밀도상의 특성 의존성에 있다. 유체 유량계와 가변 압력 차동계는 높은 신뢰성(이동 부품이 없기 때문에), 손상과 영점 이동이 없는 압력하에서 큰 과부하에 견디는 성능과 기술적 생산 유효성을 가지고 있다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
오차 0.005-0.03도C를 가지고 -30에서 150도C 범위의 유리와 액체 표면의 온도를 측정하는 반도체 저항 온도계로 험한 매질, 식품 산업, 의약에서 사용할 수 있도록 다양하게 설계 되어있다. 이 온도계는 20도C에서의 저항 10-5k오옴, 20도C에서의 감도 0.4-2.0 k오옴, 안정도 0.002도C/년의 특성을 가지며 2등급의 기준 측정을 가진다.이 온도계는 20도C에서의 저항 10-5k오옴, 20도C에서의 감도 0.4-2.0 k오옴, 안정도 0.002도C/년의 특성을 가지며 2등급의 기준 측정을 가진다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-06-13
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
열확산성과 광굴절성이 다른 것에 의존하는 온도 측정에 의한 단결정과 고온 초전도체막 평가를 위한 광학열 현미경광학열 현미경
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-26
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
저전압 전자빔과 고분해능을 달성하기 위한 종래의 SEM을 새로운 대물 렌즈들이 설계되고 제작되었다. 대물 렌즈들은 접지 전극속으로 샘플과 검출기 구축의 표면 전계 최소화를 위한 단지 샘플링의 전극 지연을 가진다. 지연 전계는 a) 대물 렌즈의 낮은 수차 b) 검출 개선을 위한 2차 전자 가속을 가진다. 실리콘 마이크로머신 2차 전자 검출기는 2100의 전류 이득을 갖는다. 17nm의 분해능은 100ev 상륙 에너지를 달성할 수 있다.초저 착륙 에너지 전자빔, 이 방법은 낮은 손상, 낮은 투과 깊이, 근접 효과를 가진다, 표면 토모그래피로 인한 왜곡이 적다. 고전압 SEM이 존재하는 매우 작은 수정을 요구한다.
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-27
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
이것은 주사를 가진 회로의 BIST를 위한 낮은 오버헤드 기구이다. 높은 고장 도달은 성능 열화와 회로-하부-시험의 수정없이 얻을 수 있다. 선형 피드백 시프트 레지스터(LFSR)는 주사 체인속으로 시프트 유사 랜덤 패턴에 이용된다. 랜덤 패턴 상주 고장을 검출하는 결정론적 시험 패턴은 LFSR에 의해 생성된 비트의 유사 랜덤 순차에서 내장된다. 이것은 고정 임의 비트에의 LSFR 직렬 출력에서 비트 고정 논리를 부가함에 의한 유사 랜덤 순차 변경에 의해 달성할 수 있다. 이 기법은 현재 가장 좋은 기법과 비교하여 BIST 하드웨어의 중요한 감소에서의 결과인 결정론적 시험 패턴의 매우 높은 부호화 효율을 마련해 준다.회로 시험 수정없이 임의의 높은 고장 수렴율, 성능 저감없음, 현재의 가장 좋은 상태보다 손실이 적음, 간단한 BIST 제어 논리, BIST 회로의 자동 합성
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-27
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
이 발명품은 에지 부착막의 진동을 이용한 초음파 발생은 위한 소자를 제작하는 방법이다. 초음파를 생성하기 위한 이 새로운 방법은 초음파 생성에서 압전, 전자기 또는 열적 방법에 대하여 장점을 가지고 있다.상대적으로 저렴한 소자, 좋은 공정 제어, 전자 통합 가능, 전자 초점과 주사를 위한 트랜스듀서 배열의 제작 허용
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-28
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
디지털 데이터 전송에서 타이밍 동기는 비트 사이의 경계 트랙에 종종 사용된다. 대부분의 타이밍 동기화기는 입력 데이터 2개의 샘플 사이의 차이 측정을 위한 초기 늦은 지연 동기 루프에 사용되었다. 이 차이에 기반하여 판정은 시간 기준을 개선시키거나 지연 시킨것으로 처리하였다. 이 발명품은 루프 과정의 가속을 목표로하여 타이밍 동기화기에서 고속 추적을 허용한다.정밀 타이밍 취득, 간단한 설계
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-28
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
용량성 마이크로머신 초음파 트랜스듀서(cMUTs)는 MHz 범위의 공기에서 초음파의 검출과 여기에 대해 효율적으로 보여져 왔다. 이 발명품은 원래부터 제작된 변동과 외부 인자로 인한 드리프트에 대한 원하는 값 보상을 위한 공진 주파수 동조와 넓은 주파수 범위에서 효율적인 동작을 마련하기 위한 cMUTs의 응답 주파수의 동점인 변화를 위한 방법을 제공한다.전력 출력 레벨과 효율의 손실없이 공기에서 응용을 위한 cMUT의 대역폭 개선, 외부 인자로 인한 원하지 않는 드리프트 보상하기 위한 공진 주파수의 동적 조정 가능
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-02-28
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
이 발명품은 표적 물체의 원자 준위 검사를 위한 음향 현미경 어셈블리이다. 이 현미경은 상위 표면상의 산화아연 압전 박막과 하위 표면상의 형상팁을 가진 캔틸레버 팔을 포함한다. 이 어셈블리는 표적 물체에 의해 반사된 음향 신호들을 수신하거나 표적 물체를 통하여 전파된 음향 신호를 수신할 수 있다. 이 어셈블리를 이용한 하나의 방법은 전송된 고주파 음향 신호의 공진 주파수 측정에 의한 다양한 위치에서 표적 물체의 특성 측정과 표적 물체의 주사 동안 압전 박막에의 연속파에 적용할 수 있다.위상 측정의 정밀도와 분해능 증가, 보다 높은 초음파 주파수 사용
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-03-01
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
촉진형 라만 전이를 가진 단일 펄스 여기 혹은 다중 펄스 서열 여기는 개개 양자 물체의 운동량에서 조절된 변화를 생성한다촉진형 라만 전이를 가진 단일 펄스 여기 혹은 다중 펄스 서열 여기는 개개 양자 물체의 운동량에서 조절된 변화를 생성
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-03-03
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
촉진형 라만 전이를 이용한 내부 상태의 조절성 조작에 의한 원자, 분자 혹은 이온의 운동량 조절법촉진형 라만 전이를 이용한 내부 상태의 조절성 조작에 의한 원자, 분자 혹은 이온의 운동량 조절법
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-03-03
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
마이크로이미지에서 유래한 공극 공간의 통계적 성질로부터 바위의 공극성, 투과성, 전기 형성 인자 그리고 탄성-파 속도를 계산하는 방법이다, 암석의 물리적 성질을 돌결(grain) 분류, 시멘트 위치, 돌결 양상을 포함하는 암석의 구성과 연계시킬 수 있게 해준다, 결과적으로 물리적 성질은 diagenetic 경로와 분해 환경과 관련된다, 끝으로 투과성이 공극성, 저항성 그리고 음파같은 기본적이고 향상된 로그 데이터로부터 예측될 수 있다는 점에서 물리적 성질들은 서로 연관되어 있다전통적인 바위 분석보다 실행하는 게 단순하다
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- 특허법인충정
- 등록일
- 2001-03-03
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
본 측정장치의 기술개발의 내용은 반도체 웨이퍼 절삭용 dicing blade의 두께 및 직경과 그 각각의 Runout을 360도 회전하면서 연속적으로 정밀 측정할 수 있는 측정부, dicing blade를 정밀 회전시키는 구동부 및 측정 자동화를 위한 측정시스템 제어부로 구성되어 있다. 측정부의 경우, 두께의 반복 측정정밀도는 ±1.0㎛, 직경의 반복 측정정밀도는 ± 0.5㎛이며 측정속도는 시간당 100개를 측정할 수 있도록 하였다. 구동부의 경우, dicing blade를 정밀 회전시키기 위하여 에어베어링 및 정밀 지그를 사용하여 측정 오차의 요인을 감소시켰다.본 측정장치의 특징은 측정부 및 구동부의 제어 및 측정 데이터의 처리를 수행하는 전용 소프트웨어를 개발하여 측정 과정을 자동화하였으며 교정 게이지를 이용하여 센서의 교정을 할 수 있는 기능이 있다. 또한 두께 센서의 경우, 고가의 특수한 레이저빔 센서를 사용하는 외국산 측정장치보다 가격은 저렴하지만 측정 정밀도는 우수한 초소형 정전용량형 센서를 사용하여 차별화된 특징이 있다. 본 측정장치의 기술개발의 효과로서는 측정속도가 시간당 100개를 정밀 측정할 수 있으므로 전수검사가 가능하고 생산성 향상, 제품의 품질 관리 및 품질 개선에 기여할 수 있으며, 측정 결과를 내수 및 수출에 필수적으로 포함되는 제품 성적서 작성에 사용할 수 있다. 국내에서는 본 측정장치와 유사한 측정 성능을 가진 장비를 개발한 적이 없으며, 특수 레이저빔 센서를 사용하는 유사 성능의 외국산 장비와 비교하여 개발 가격이 1/2이하이므로 수입대체 효과가 클 것으로 기대된다.
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- 한국기계연구원
- 등록일
- 2002-05-16
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
두이스부르크 대학이 마이크로 일렉트로닉 제조회사와 공동협력으로 개발한 이 광학계측 기술은 나노 회로판 석판 인쇄물(Nano Imprint Lithography-NIL)의 Quality를 콘트롤 하는 기술이다. 나노 단위의 패턴을 분석하는데에는 일반적(normal)인 폴리머가(Polymer) 사용되어 지는데 비해, 이 기술에서는 fluorescent labels로 강화된 폴리머가 사용되어진다. 따라서 나노 회로판의 낙인샘플이 스캔되어지면 회로판 표면 각 부분들의 fluorescence 강도가 계산되어지는데, 이것을 통해 나노 회로판 인쇄물의 응결, 용해 부분등의 Quality가 콘트롤 되어 지는 것이다 .이러한 분석 기술은 나노 회로판 인쇄 프로세스가 진행되는 동안의 여러 조건들과 최종품의 질적 유효성을 승인하는 아주 중요한 정보를 제공한다. 이 기술은 통상적으로 이용되어져 온 다른 나노 회로판의 인쇄 결과 Quality 콘트롤 기술들에 비해 생산비용 면에 있어서도 저렴하다 하겠다. 또한 현재 이 기술의 개발자들은 나노 회로판 인쇄물의 Quality Control 뿐만 아니라 좀 더 빠르고 사용자가 이용하기 편리하며 믿을 수 있는 스캐닝 프로세스 소프트웨어 개발에 노력하고 있다.
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- 한국과학기술연구원
- 등록일
- 2004-07-07
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일반기술
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
본 발명은 초소형의 다종 가스 분압 측정소자 및 측정방법에 관한 것으로, PZT캐패시터를 각각 포함하고 있는 복수의 동일크기의 캔틸레버들이 지지대에 연결되어 부상되어 있고, 상기 복수의 캔틸레버들상의 각각의 단부에는 각각 특정 가스를 흡수하여 반응할 수 있는 가스 감지막이 형성되어 있도록 구성함으로서, 캔틸레버에 특정가스 반응 감지막을 형성하고, 특정가스의 감지로 발생된 휘어짐의 변위 및 공진주파수의 변화로 특정 가스의 압력을 측정하여 반도체 제조공정을 정밀히 수행할 수 있는 효과가 있을 뿐만 아니라, 초소형으로 제작이 가능하여 손으로 들고 다니거나 로봇에 의해 이동 가능하여 화학전 및 대기 환경에서 유해 가스의 분압을 측정할 수 있는 효과가 있다.반도체 압력센서는 밀폐된 체적내 가스들의 전체압력을 측정하는 것으로, 다양한 종류의 가스들 각각의 분압은 측정하지 못하는 단점이 있다. 더불어, 반도체 제조 공정에서, 다양한 종류의 반응성 가스들이 반도체 제조장비의 챔버에 공급되어, 반도체 웨이퍼의 상부에 원하는 층을 형성하여 소자를 제조할 때, 다종의 반응성 가스들 각각은 정밀한 가스량이 조절되어 챔버에 공급되어야만 최적의 반도체 소자를 제조할 수 있다.이렇게 챔버에 각각의 반응성 가스들의 가스량을 조절하려면, 챔버의 전체 가스 압력보다는 공급되는 각각의 가스 분압을 알아야 한다.그런데, 반도체 제조장비에는 통상적인 압력 게이지가 부착되어 있어, 다종의 가스들 분압을 측정할 수 없고, 챔버내로 공급되는 가스의 전체 압력만 측정할 수밖에 없었다.이에 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 혼합되어 있는 다종의 가스들의 분압을 정확히 측정할 수 있는 마이크로 단위의 초소형 캔틸레버를 이용한 다종 가스 분압 측정 소자 및 그의 제조방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
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- 경기기술이전센터
- 등록일
- 2004-08-31
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전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
본 발명은 특고압 배전선로의 전압검출 방법과 장치에 관한것으로, 국내의 특고압 가공또는 지중 배전선로의 전압측정에 계기용 변압기(PT)나 전력용 콘덴서를 분압기로 사용해오던 기존 방식과는 달리, 가스절연개페기(Gas-filled switch),의 절연부싱을 이용하여 비접촉방식으로 전압검출장치를 구성하는 것이다. 본 전압측정장치는 기설 또는 신설의 가스절연개폐기의 외부에 구조변경없이 간단히 적용할 수 있으며, 특고압 배전선로의 정확한 전압측정은 물론 고주파성분의 과도과전압도 측정이 가능하다. 또한 본 전압측정장치의 설치로 인한 가스절연개폐기의 전기적 특성에는 어떠한 영향도 주지 않는 특징이 있다.가스절연개폐기가 설치된 특고압배전선로에 있어서, 가스절연개폐기의 절연붓싱내의 고전압도체와 전압검출전극사이에 작용하는 정전용량과 전압검출전극의 정전용량에 의한 용량성 분압회로로 구성되는 비접촉방식의 전압검출장치, 가스절연개폐기가 설치된 특고압 배전선로에 있어서, 가스절연개폐기의 절연붓싱 내에 위치한 고전압도체와 전압검출전극 사이에 작용하는 정전용량과 전압검출전극의 정전용량에 의한 용량성 분압회로로 구성되고 상기 전압검출전극은 링형이므로 절연붓싱 외부에 설치되며, 또한 상기 전압검출전극에는 전압검출전극과 신호전송케이블과의 접속을 용이하게 하고, 분압비 조정용 콘덴서를 내장하기 위한 접속장치를 구비한 것을 특징으로 하는전압검출장치
- 보유기관
- 특허법인충정
- 등록일
- 2005-07-18
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